非接觸式IC卡硬件驅(qū)動層的系統(tǒng)測試方法研究.pdf

1、隨著信息時代的到來，非接觸式IC卡(Integrated Circuit Card，集成電路卡)在日常生活中的應(yīng)用日趨廣泛，這對嵌入式軟件系統(tǒng)測試方法的有效性與實用性提出了新的挑戰(zhàn)。高層次的安全保護(hù)已成為了非接觸式IC卡得以廣泛使用的基礎(chǔ)。在非接觸式IC卡的系統(tǒng)層次架構(gòu)中，硬件驅(qū)動層位于硬件層以及用戶COS(Chip OperatingSystem，片上操作系統(tǒng)軟件)之間，在實現(xiàn)對各個硬件模塊存儲或操作的同時，隔離了對于硬件資源的攻擊風(fēng)

2、險。
　　 本文探討了非接觸式IC卡硬件驅(qū)動層的系統(tǒng)測試方法，包括在FPGA(Field Programmable Gate Array，現(xiàn)場可編程門陣列)平臺上進(jìn)行在線測試以及樣卡的回歸測試方法。本文討論了嵌入式軟件的統(tǒng)一測試模型，分析了嵌入式軟件測試的特點，并對國內(nèi)外流行的嵌入式軟件系統(tǒng)測試種類以及測試方法進(jìn)行了研究。同時，本文還探討了嵌入式軟件安全性評估標(biāo)準(zhǔn)CC (Common Criteria，通用標(biāo)準(zhǔn))規(guī)范中對于測試方

3、面的要求，這些都為硬件驅(qū)動層系統(tǒng)測試方法的研究奠定了理論基礎(chǔ)。然后，本文根據(jù)對硬件驅(qū)動層總體架構(gòu)以及實現(xiàn)情況的分析，確定了在進(jìn)行硬件驅(qū)動層系統(tǒng)測試時可使用的三種系統(tǒng)測試種類，分別為：功能測試、性能測試以及恢復(fù)測試。其中，功能測試是最關(guān)鍵也是最基本的，而性能測試以及恢復(fù)測試是對硬件驅(qū)動層的事務(wù)處理速率以及容錯能力的測試。功能測試中主要采用的是動態(tài)測試方法(等價類劃分方法等)來進(jìn)行測試用例的設(shè)計，同時，用靜態(tài)測試方法中的代碼走查方法來彌補(bǔ)使

4、用動態(tài)測試方法無法測試到的情況。硬件驅(qū)動層提供了多種算法(ECC算法等)以及大數(shù)運算(2048位數(shù)據(jù)的乘法運算等)的功能函數(shù)，本文采用OpenSSL軟件包作為測試數(shù)據(jù)的來源，以保證功能測試用例中所設(shè)計的預(yù)期輸入輸出測試數(shù)據(jù)的正確性以及標(biāo)準(zhǔn)性。另外，本文還從EAL4+(Evaluation Assurance Level，安全保證級別)的測試范圍分析、測試深度分析以及功能測試三個角度考慮了安全功能的功能測試用例的設(shè)計方法。最后，本文確定了