微波暗室及其自動化測試系統(tǒng)的可靠性研究.pdf

1、近年來，隨著無線通信應用的日益廣泛，無線終端設備如手機的射頻性能測試技術也得到更多關注。手機射頻性能的測試主要包括增益、TRP(總輻射功率)、TIS(總全向靈敏度)等測試。這些測試離不開微波暗室的使用。本論文主要包括微波暗室靜區(qū)的確立，測試系統(tǒng)的測量不確定度評定以及TIS快速測試技術的研究三個部分。 微波暗室的電性能中，靜區(qū)反射電平是反映暗室性能好壞的最主要指標之一。靜區(qū)的反射率電平越小，暗室本身引入的測試誤差越小，暗室的性能也

2、越好。因此，為了確保手機輻射性能測試系統(tǒng)的測試可靠性，本文首先使用幾何光學法和幾何繞射理論對測試場地的靜區(qū)性能進行了仿真和實際測試，并確立出不同條件下的靜區(qū)范圍，確保被測手機處于靜區(qū)之內。 在此基礎上，本文介紹了微波暗室中手機增益、TRP和TIS自動化測試系統(tǒng)，分別重點討論了影響系統(tǒng)測量不確定的各種因素，并對主要影響因素如測試設備、連接失配和環(huán)境條件等進行了定量計算。根據理論分析以及長期的測試經驗對如何提高測試數據的可靠性提出了