2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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1、LTE(Long Term Evolution)項(xiàng)目是第三代移動(dòng)通信技術(shù)(3rd-generation,3G)的演進(jìn),中國正致力于TD-LTE(Time Division Long Term Evolution)技術(shù)的研究。隨著LTE終端基帶芯片設(shè)計(jì)的進(jìn)行,對(duì)其進(jìn)行有效的驗(yàn)證已經(jīng)成為芯片開發(fā)流程中的關(guān)鍵。
  本文采用FPGA(Field Programmable Gate Array)驗(yàn)證的方式,對(duì)LTE基帶芯片子系統(tǒng)的驗(yàn)證展開

2、了論述,詳細(xì)介紹了子系統(tǒng)中USB橋,外接收機(jī),原型接口的FPGA驗(yàn)證過程。FPGA驗(yàn)證的結(jié)果也達(dá)到了芯片設(shè)計(jì)規(guī)范的要求。本文首先介紹了FPGA的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),結(jié)合芯片設(shè)計(jì)的流程,總結(jié)了FPGA驗(yàn)證人員的工作流程,指導(dǎo)驗(yàn)證工作的進(jìn)行。接著本文從FPGA驗(yàn)證平臺(tái)的搭建出發(fā),根據(jù)LTE基帶芯片的結(jié)構(gòu)和功能特點(diǎn),制定了合適的驗(yàn)證計(jì)劃以及測(cè)試向量的編寫規(guī)則,并且詳細(xì)論述了FPGA的驗(yàn)證流程:從設(shè)計(jì)代碼的轉(zhuǎn)換開始到后期進(jìn)行的FPGA的板級(jí)調(diào)試。在驗(yàn)證流

3、程中,為了達(dá)到功能的要求和后期板級(jí)調(diào)試的開展,軟件仿真工作占了驗(yàn)證周期很大的比重。
  最后本文介紹了系統(tǒng)具體功能模塊的驗(yàn)證工作。根據(jù)功能模塊的結(jié)構(gòu)特性,在系統(tǒng)中完成的功能,依托FPGA驗(yàn)證平臺(tái),分別制訂了有效可行的驗(yàn)證方法,并在FPGA原型驗(yàn)證平臺(tái)上進(jìn)行了調(diào)試,調(diào)試工具采用的是在線邏輯分析儀,能夠?qū)崟r(shí)的檢測(cè)端口的信號(hào)。板級(jí)調(diào)試后的結(jié)果與驗(yàn)證初期軟件仿真的結(jié)果一致。本文通過對(duì)基帶芯片的FPGA驗(yàn)證的實(shí)踐,總結(jié)了針對(duì)ASIC(專用集

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