非晶材料電特性測量和溫度控制系統(tǒng)的設計.pdf

1、非晶材料在晶化過程中表現(xiàn)出明顯的電、磁等特性，而這些特性是表征晶化過程晶核組織結構的敏感性能指標，根據(jù)晶化過程的這個特性，如果能夠方便、靈活地控制品化過程的溫度，就可以在一定程度上控制非晶的組織特性。本文設計了一種測控系統(tǒng)，通過“在線”控制晶化的溫度，實時測量晶化過程電阻率，獲得晶化過程溫度和電阻率之間的實驗數(shù)據(jù)。 該系統(tǒng)由兩部分組成，一部分是電阻率測量系統(tǒng)，另一部分是溫度測量控制系統(tǒng)。 電阻率測量部分采用四探針法原理，

2、設計了高穩(wěn)定度的恒流源電路，高精度直流放大電路和快速A/D轉換電路。恒流源電路利用深度負反饋技術得到穩(wěn)定的電流輸出。直流放大器采用高輸入阻抗的儀表放大器，消除了接觸電阻的影響，并通過單片機的控制實現(xiàn)變增益放大，提高了測量精度。 溫度測量控制部分，采用K型熱電偶和串行模數(shù)轉換器MAX6675檢測晶化箱的溫度，MAX6675內部集成冷端補償和校正功能，轉換后的信號可直接換算成溫度值。在溫度控制中，應用史密斯—模糊自調整PID算法，計