基于樹形向量解壓縮器降低測試數(shù)據(jù)量的研究.pdf

1、為了保證集成電路產(chǎn)品的質(zhì)量,測試是必不可少的一個環(huán)節(jié),然而被測電路的日益復(fù)雜和高度集成使得測試越來越困難,測試代價越來越高。為了降低測試成本,需要把使電路變得易測的目標(biāo)納入設(shè)計規(guī)范。通過添加硬件或者改變電路結(jié)構(gòu),使所設(shè)計的電路易于測試,即進(jìn)行可測性設(shè)計。全掃描測試是最有效和流行的可測性設(shè)計技術(shù)之一。全掃描測試技術(shù)將時序電路的測試產(chǎn)生問題轉(zhuǎn)化為組合電路的測試產(chǎn)生問題,降低了測試生成的復(fù)雜度,并提高了故障覆蓋率。但是,測試應(yīng)用時間、測試數(shù)據(jù)

2、量和測試功耗都大大增加。
　　 目前,人們提出了許多方法以降低掃描測試的費用。BAST(BIST-Aided ScanTest)技術(shù)被提出來以減少測試激勵數(shù)據(jù)量和測試應(yīng)用時間。該測試結(jié)構(gòu)通過使用偽隨機(jī)測試向量生成器(PRPG)和多輸入信號分析器(MISR),降低了測試激勵數(shù)據(jù)量,節(jié)省自動測試設(shè)備(ATE)中的存儲資源。BAST掃描結(jié)構(gòu)中還包含有翻轉(zhuǎn)控制塊,解碼塊和X屏蔽塊。其中翻轉(zhuǎn)控制塊的作用是解決偽隨機(jī)測試生成與自動測試向量生

3、成器(ATPG)生成的測試向量中有沖突的確定位。當(dāng)ATPG生成的測試向量所含的確定位較多時,BAST偽隨機(jī)生成的測試向量與ATPG可能有較多的沖突位需要翻轉(zhuǎn),每翻轉(zhuǎn)一次都需要一個周期的時間,因而增加了測試周期,測試數(shù)據(jù)的壓縮率也必然會降低。另外,BAST結(jié)構(gòu)絕大部分采用偽隨機(jī)的測試向量,要降低測試功耗比較困難。
　　 針對BAST中的缺點,本文設(shè)計了一個樹形解壓縮器。該解壓縮器僅由異或門組成,以完全二叉樹的形式展開。該解壓縮器的

4、少數(shù)輸出端需要大部分的輸入端確定,而且該結(jié)構(gòu)對其輸出值的確定關(guān)系類似于掃描鏈中確定位的分布概率,降低測試過程中需要翻轉(zhuǎn)的次數(shù),降低了測試數(shù)據(jù)量,從而降低了存儲在ATE中的數(shù)據(jù)量和測試需要的外接引腳,達(dá)到了降低測試費用的目的。
　　 針對該結(jié)構(gòu)本文提出了相適應(yīng)的算法,該算法對ATPG的測試向量進(jìn)行編碼求解,盡可能使該解壓縮器的輸出與ATPG測試向量中確定位的沒有沖突。如果匹配過程中,對ATPG中的某一個測試向量無法得到解,那么算法