基于Junit的自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境開(kāi)發(fā)及應(yīng)用研究.pdf

1、自動(dòng)單元測(cè)試在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中日益重要。但目前一些主流的單元測(cè)試框架和開(kāi)發(fā)過(guò)程結(jié)合不夠緊密，且自動(dòng)化程度也不高。因此，本文詳細(xì)闡述了一種基于Junit的自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境—X5的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)；定義了一套適合于X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境應(yīng)用的軟件開(kāi)發(fā)和測(cè)試過(guò)程；討論了X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境在實(shí)際項(xiàng)目中的應(yīng)用并對(duì)其效率進(jìn)行了分析。 X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境主要由S-NSBox Designer，UT-Case Manager和X5-Junit Fra

2、mework三個(gè)部分組成。 S-NSBox Designer采用簡(jiǎn)化的NS盒圖作為程序結(jié)構(gòu)的表現(xiàn)形式，其主要功能是輔助程序員進(jìn)行程序結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。簡(jiǎn)化的NS盒圖是在經(jīng)典N(xiāo)S盒圖的基礎(chǔ)上加以簡(jiǎn)化和改進(jìn)而形成的，具有形式簡(jiǎn)明清晰的特點(diǎn)。以簡(jiǎn)化的NS盒圖作為數(shù)據(jù)源，通過(guò)S-NSBox Designer，可以自動(dòng)產(chǎn)生“基本路徑”和“等價(jià)類(lèi)劃分”這兩類(lèi)測(cè)試用例。還能得到帶有“測(cè)試印跡”的業(yè)務(wù)代碼框架。 UT-Case Manager改

3、進(jìn)了原有基于Junit框架的測(cè)試驅(qū)動(dòng)腳本難以維護(hù)、效率低等缺點(diǎn)。由它導(dǎo)出的測(cè)試驅(qū)動(dòng)腳本支持對(duì)一個(gè)被測(cè)方法同時(shí)進(jìn)行多個(gè)用例的測(cè)試，提高了效率；而且測(cè)試驅(qū)動(dòng)腳本與測(cè)試數(shù)據(jù)分離，提高了腳本的可維護(hù)性。此外，它還能生成IO配置文件，即驅(qū)動(dòng)腳本、測(cè)試數(shù)據(jù)和被測(cè)代碼之間的紐帶。 X5-Junit Framework作為一個(gè)數(shù)據(jù)配置及測(cè)試運(yùn)行的平臺(tái)，是在原有的Junit框架基礎(chǔ)上擴(kuò)展而成的。測(cè)試運(yùn)行時(shí)，由增加的控制層負(fù)責(zé)加載測(cè)試數(shù)據(jù)，并傳遞給

4、被測(cè)代碼進(jìn)行處理。被測(cè)代碼執(zhí)行完成后，由增加的比較工具庫(kù)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行處理，并將最終結(jié)果返回給用戶，測(cè)試人員從而可以判斷測(cè)試是否成功。 適合于X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境應(yīng)用的軟件開(kāi)發(fā)和測(cè)試過(guò)程主要由程序結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)過(guò)程、編碼過(guò)程以及單元測(cè)試過(guò)程三部分組成，它們定義了人員與角色、輸入輸出制品、工具和核心活動(dòng)等內(nèi)容。整個(gè)過(guò)程作為一個(gè)指導(dǎo)策略和約束機(jī)制，有效地提高了X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境在實(shí)際項(xiàng)目中的可應(yīng)用性。 X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境已在實(shí)

5、際項(xiàng)目中得到應(yīng)用。從實(shí)際應(yīng)用項(xiàng)目中得到的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以看出，在使用了X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境之后,無(wú)論是程序員進(jìn)行程序設(shè)計(jì)和編程，還是測(cè)試人員準(zhǔn)備單元測(cè)試用例和執(zhí)行測(cè)試，工作量都有所減輕；且單元測(cè)試的缺陷檢出率也有一定比例的提高。在單元測(cè)試執(zhí)行過(guò)程中，分別代表實(shí)際缺陷檢出數(shù)和預(yù)想缺陷檢出數(shù)的兩條曲線比較吻合，說(shuō)明在運(yùn)用X5自動(dòng)單元測(cè)試環(huán)境后，缺陷的檢出過(guò)程是比較平穩(wěn)的，不像手工測(cè)試那樣有比較大的波動(dòng)。 本文的創(chuàng)新意義主要在于：（1）提