緊湊型JTAG接口的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證.pdf

1、隨著芯片集成度的不斷增加和對低功耗設(shè)計(jì)的要求,原先基于IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)的JTAG接口面對新的挑戰(zhàn),不能滿足當(dāng)今設(shè)計(jì)的需要。CJTAG基于IEEE STD1149.7標(biāo)準(zhǔn)及傳統(tǒng)的JTAG的邊界掃描原理提供了一個(gè)更加強(qiáng)大的測試和調(diào)試接口,達(dá)到現(xiàn)在系統(tǒng)的要求。CJTAG用更少的管腳提供更多的功能,而同時(shí)保證了對IEEE1149.1的軟件和硬件的兼容性。它的功能包括六個(gè)級,每一個(gè)上層級(Class)包含了它的下層級(Class)的所

2、有功能。CJTAG接口提供了一個(gè)可擴(kuò)展的方案以達(dá)到不同模塊和復(fù)雜系統(tǒng)的需要。本文以IEEE1149.7標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)實(shí)現(xiàn)了一個(gè)CJTAG測試接口,由于應(yīng)用了零位DR掃描方式生成零位掃描(ZBS),然后通過對ZBS計(jì)數(shù)器的鎖存來完成控制級(Control Level)的功能,由控制級的值來產(chǎn)生各種命令,最終顯著提高了掃描性能和對測試邏輯的功耗很好控制。同時(shí)也提供了一個(gè)可重用和可配置的驗(yàn)證平臺,我們對CJTAG的功能做了充分的驗(yàn)證,保證其實(shí)現(xiàn)的