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1、蘇州大學(xué)碩士學(xué)位論文多孔SiOCH薄膜的O等離子體表面處理研究姓名:錢曉梅申請(qǐng)學(xué)位級(jí)別:碩士專業(yè):凝聚態(tài)物理指導(dǎo)教師:寧兆元葉超20070401多孔SiOCH薄膜的O等離子體表面處理研究英文摘要AbstractAsthedevicedimensioncontinuousshrinkinginuitralarge—scaleintegratedcircuits(ULSI),theresistancecapacitance(RC)delay
2、ofinterconnectsbecomesamajorproblemwhichleadstosignalpropagationdelaydissipationandcrosslinkbetweenmetalinterconnectsInordertoaddresstheproblems,theAI/Si02structuremustbereplacedwi也lowdielectricconstantmaterialsandlowres
3、istivitymetalinterconnectsAsthesubstitutionofSi02,theporouslowdielectricconstant(10wk)andultra—lowdielectricconstant(ultralowk;k21materialshavereceivedmorecloseattentionrecentlyMeanwhile,copperhasbeenadoptedasthesubstitu
4、tionofAlinterconnectsinULSIduetoitslowerresistivityHowever,theintegrationofCu/SiCOHporouslowkdielectricsremainschallengingOwingtotheexistenceofopenporesatthesurfaceofSiCOHlowkfilms,thediffusionofCutoporousSiCOHlowkfilmsc
5、antakeplaceundertheactionofbiasorthermaltreatmentItwillleadtotheincreaseofleakagecurrentandthedeteriorationofelectricalpropertyDuetotheexistenceofSidanglingbondsatthesurfaceofporousSiCOHfilms,ifweincreasethelinkageofSida
6、nglingbondsby02plasmatreatmentthemoreopenporesmaybesealedInthispapertheeffectof02plasmatreatmentontheleakagecurrentofCu/SiCOHintegratedstructureandthedielectricconstantofSiCOHlowkfilmsisinvestigatedTheresultsshowthatthel
7、eakagecurrentofCu/SiCOHstructurecanbereducedgreatlyby02plasmasurfacetreatmentattheexpenseoftheslightincreaseofdielectricconstant丘B(yǎng)ytheFTIRanalysisthedecreaseofleakagecurrentisprovedtelatetotheincreaseofclosedporesKeyword
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