用準(zhǔn)光腔自動(dòng)測(cè)試大面積介質(zhì)片復(fù)介電常數(shù)的平面分布.pdf

1、當(dāng)今信息技術(shù)高速發(fā)展，微波介質(zhì)材料已經(jīng)廣泛地應(yīng)用于電子、通信等各個(gè)領(lǐng)域中。如微波通信、衛(wèi)星通信、電子對(duì)抗、遙感等系統(tǒng)己大量使用微波介質(zhì)材料。而在這些應(yīng)用中都必須準(zhǔn)確地知道介質(zhì)材料的微波特性，因此對(duì)介質(zhì)材料電磁參數(shù)進(jìn)行測(cè)量具有重要的意義。介質(zhì)材料早己被人們所認(rèn)識(shí)，對(duì)其特性的研究也從未間斷過(guò)，隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，對(duì)介質(zhì)材料電磁參數(shù)的測(cè)量也越來(lái)越深入和準(zhǔn)確。 通常的測(cè)量方法只能測(cè)得介質(zhì)材料參數(shù)的平均值，而對(duì)大面積材料各點(diǎn)的分布狀況

2、卻束手無(wú)策。本文針對(duì)如何在3mm波段測(cè)量大面積介質(zhì)材料復(fù)介電常數(shù)的分布情況進(jìn)行了研究，提出了相應(yīng)的測(cè)試方法并組建了測(cè)試系統(tǒng)。本課題的主要工作包括： 1.通過(guò)對(duì)國(guó)內(nèi)外相關(guān)測(cè)量技術(shù)的分析，根據(jù)實(shí)際情況，確定了用準(zhǔn)光腔進(jìn)行測(cè)量；分析了準(zhǔn)光腔理論；建立了用反射法測(cè)試的理論模型；推導(dǎo)了用準(zhǔn)光腔測(cè)量復(fù)介電常數(shù)的公式。 2.分析系統(tǒng)的可行性；對(duì)系統(tǒng)的各個(gè)部件進(jìn)行了測(cè)試分析；最終組建了毫米波測(cè)試系統(tǒng)。用VC++編寫了測(cè)試軟件，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控