CT系統(tǒng)中射束硬化校正算法研究.pdf

1、射束硬化是由X射線束能譜的多能性和衰減系數與能量的相關性造成的。多能X射線穿過物體時，能量較低的X光子由于光電效應優(yōu)先被吸收，使得穿透物質的X射線高能成分比例增加，表現(xiàn)為平均能量升高，從而使射線隨貫穿長度增加，變得更易穿透，頻譜分布的峰值向較高的能量方向移動，這就是射束硬化效應。它會導致密度均勻的被測物體切片在重建 CT圖像上表現(xiàn)為亮度不一，圖像上的像素值分布呈中間黑邊緣亮的“茶杯”狀，即“杯狀”偽影。
　　目前，國內外對射束硬化

2、校正的研究已取得很大進展，達到一定的硬化校正效果，但還不夠完善，仍需進一步研究。
　　本文對傳統(tǒng)線性化校正方法做了兩點改進：（1）對傳統(tǒng)多項式擬合校正方法在等效衰減系數的求法上做了改進：改進方法對靠近原點的幾組數據進行直線擬合，選取該擬合直線的斜率代替?zhèn)鹘y(tǒng)方法中的擬合曲線在零點處的導數值，以擬合直線的斜率作為單色時的等效衰減系數，更接近實際，有效地減小了誤差。（2）對擬合函數做了進一步的改進：以更能滿足射束硬化曲線擬合相關要求的指