自旋閥結(jié)構(gòu)多層膜的熱穩(wěn)定性研究.pdf

1、基于多層膜巨磁電阻材料的磁阻傳感器現(xiàn)已得到廣泛應(yīng)用，特別是以自旋閥結(jié)構(gòu)多層膜為代表的磁性多層膜已成功應(yīng)用于計算機(jī)硬盤的讀寫磁頭，但其可靠性和使用壽命受到了交換偏置雙層膜及多層膜的熱穩(wěn)定性的制約。國內(nèi)外眾多學(xué)者針對交換偏置雙層膜的熱穩(wěn)定性開展了卓有成效的研究工作，但均未涉及到自旋閥結(jié)構(gòu)多層膜的熱穩(wěn)定性研究。為了更好地利用自旋閥結(jié)構(gòu)多層膜的優(yōu)異特性，本文開展了對其熱穩(wěn)定性的研究。
　　 本文采用磁控濺射法制備了結(jié)構(gòu)為//Seed T

2、a / Co75Fe25 / Cu / Co75Fe25 / Ir20Mn80 / Cap Ta的多層膜。通過VSM、XRD等測試分析手段研究了負(fù)飽和場等待和溫度對自旋閥結(jié)構(gòu)多層膜的磁性能的影響，進(jìn)而研究了自旋閥的熱弛豫，其中著重分析了影響其熱穩(wěn)定性的主要因素及機(jī)理。
　　 研究結(jié)果表明：隨著在負(fù)飽和場中等待時間的增加，在被釘扎層中出現(xiàn)了時間效應(yīng)。交換偏置場Hex和被釘扎層的矯頑力Hcp隨溫度升高而單調(diào)減?。蛔杂蓪拥某C頑力先隨溫