SiC納米材料的場發(fā)射性能及應(yīng)用研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、本文利用化學(xué)氣相反應(yīng)法(CVR)成功合成了四種不同形貌的SiC納米線,通過場發(fā)射掃描電鏡(FE—SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、選區(qū)電子衍射(SAED)和X射線衍射儀(XRD)等對產(chǎn)物進行了系統(tǒng)表征,并深入研究了產(chǎn)物的場發(fā)射性能、任意分布SiC納米線的純化工藝以及場發(fā)射顯示器件的研制。試驗結(jié)果表明: 有刺SiC納米線的開啟電壓和閾值電壓分別為1.3V/μm和4.2V/μm,在四種形貌SiC納米線中場發(fā)射性能最好;提高真空度會

2、降低有刺SiC納米線的開啟電壓和閾值電壓,但開啟電壓降低的幅度更大;低電場強度下升高溫度會提高有刺SiC納米線的開啟電壓,而同樣溫度高電場強度條件下,溫度對閾值電壓的影響并不明顯。 針對任意分布SiC納米線,采用高溫加熱處理和酸化處理相結(jié)合,得到如下純化工藝:(1)高溫加熱處理工藝:加熱溫度為900℃,保溫時間為2h;(2)酸洗工藝:氫氟酸濃度為1.5mol/L,酸洗時間為4h。經(jīng)過純化后,產(chǎn)物中所含的雜質(zhì)減少了,場發(fā)射性能也改

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