微處理器全速電流測試實驗研究.pdf

1、隨著集成電路制造技術的發(fā)展，基于固定型故障模型的電壓測試技術越來越不能滿足高性能集成電路的需求。為了降低測試成本并且提高集成電路的可靠性，電流測試應運而生。電流測試技術包括穩(wěn)態(tài)電流測試(IDDQTesting)、瞬態(tài)電流測試(IDDTTesting)兩種方法。穩(wěn)態(tài)電流測試目前已經(jīng)實用化，而瞬態(tài)電流測試由于其對測試設備要求苛刻和其他一些技術問題仍處于研究階段。針對瞬態(tài)電流測試過于依賴測試設備的現(xiàn)狀，中科院閔應驊教授提出了基于瞬態(tài)電流的全速

2、電流測試方法(IDDATesting)。全速電流測試的可行性已在仿真實驗中得到了驗證，現(xiàn)在需要實測實驗的支持。 微處理器是一種較為特殊的電路，它可不需要外加激勵而依靠程序存儲器自行運轉。若以程序作為測試激勵，用全速電流測試方法檢測微處理器，實驗過程將非常容易實現(xiàn)。本文針對微處理器的特點，提出了指令級全速電流測試方法。希望以AT89C51微處理器為例，通過實驗說明用全速電流測試進行微處理器測試是可行的。AT89C51的指令級測試以