用于CPU電源電路的功率開關(guān)管的功耗對比研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩76頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡介

1、隨著各種移動設(shè)備特別是電腦的普及率在逐年升高,科技發(fā)展對用于筆記本電腦中CPU開關(guān)電源中功率器件的性能提出了更高的要求,需要其具備更快的開關(guān)時間和更低的功耗。溝槽柵MOSFET在作為功率開關(guān)管已存在相當(dāng)長的時間,近年來國際上業(yè)已開發(fā)出常閉型結(jié)型場效應(yīng)管(e-JFET)用作開關(guān)電源電路中的開關(guān)管,并開始圍繞e-JFET的性能進(jìn)行改進(jìn)研究,但尚未見到有公開發(fā)表的論文對于典型的e-JFET器件和溝槽柵MOSFET器件在功耗組成及對比方面進(jìn)行詳

2、細(xì)的分析和優(yōu)勢比較。 因此根據(jù)需要本課題主要針對以下兩點進(jìn)行研究:一是對目前廣泛使用的兩種典型結(jié)構(gòu)即溝槽柵MOSFET和e-JFET在不同工作頻率下的功耗分布和總功耗進(jìn)行定量的仿真和對比分析;二是在現(xiàn)有結(jié)構(gòu)的e-JFET的基礎(chǔ)上,提出創(chuàng)造性的改進(jìn),即把溝槽柵下的臨近電極處的部分Si層替換為絕緣的且電容率僅為硅1/3的SiO2層,以此來減小柵溝PN結(jié)的面積和介質(zhì)的電容率從而有效的減小柵—漏電容Cgd,進(jìn)而降低開關(guān)時間,減小開關(guān)損耗

3、,針對新結(jié)構(gòu)器件,通過仿真得到其與現(xiàn)有結(jié)構(gòu)器件在功耗上的具體的對比優(yōu)勢。為了達(dá)到以上兩種實驗?zāi)康?,本文對開關(guān)電源電路的工作原理,功耗組成和分布,以及現(xiàn)有結(jié)構(gòu)e-JFET和溝槽柵MOSFET以及本研究提出的新結(jié)構(gòu)e-JFET的工作原理和功耗計算等方面進(jìn)行了理論分析,并在此基礎(chǔ)上運用ISE仿真工具對以上三種不同結(jié)構(gòu)的器件在同等外部工作條件下進(jìn)行了靜態(tài)特性和開關(guān)特性的仿真對比。 結(jié)果顯示,在工作頻率為1MHz時,現(xiàn)有結(jié)構(gòu)e-JFET比

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論