吸收劑電磁參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)與反射率優(yōu)化.pdf

1、在吸波材料的計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)中，全自動(dòng)優(yōu)化設(shè)計(jì)技術(shù)具有很多優(yōu)點(diǎn)。本文即采用該技術(shù)設(shè)計(jì)了一個(gè)簡(jiǎn)單的多層吸波材料的反射率優(yōu)化軟件，該軟件由吸收劑電磁參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)管理程序與多層吸波材料的反射率優(yōu)化軟件兩部分組成。 吸收劑電磁參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)管理程序可以方便的管理，利用大量材料的電磁參數(shù)，并為優(yōu)化軟件提供數(shù)據(jù)源；程序?qū)⑵溆脩舴譃槿齻€(gè)級(jí)別的權(quán)限來(lái)防止數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)被錯(cuò)誤操作而損壞；程序還可以防止測(cè)量誤差較大的數(shù)據(jù)被導(dǎo)入到數(shù)據(jù)庫(kù)，對(duì)后續(xù)優(yōu)化計(jì)算造成不

2、利影響。 多層吸波材料的反射率優(yōu)化軟件以一定頻帶下的最大反射率或者某一反射率下的最大頻帶寬度為目標(biāo)函數(shù)來(lái)進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計(jì)，采用了三種不同遺傳算法來(lái)進(jìn)行對(duì)比研究。三種遺傳算法的差別在于選擇操作中是否運(yùn)用適應(yīng)值比例策略及精英保留策略；交叉及變異操作中是否引入自適應(yīng)的交叉，變異概率因子。 對(duì)于優(yōu)化程序的計(jì)算實(shí)例分析表明，三種算法都不能給出全局最優(yōu)值，都只能給出局部最優(yōu)值。這些局部最優(yōu)值對(duì)于實(shí)際研究仍然是有一定指導(dǎo)意義的。當(dāng)材料種類