吸收劑電磁參數(shù)數(shù)據(jù)庫與反射率優(yōu)化.pdf

1、在吸波材料的計算機(jī)輔助設(shè)計中，全自動優(yōu)化設(shè)計技術(shù)具有很多優(yōu)點(diǎn)。本文即采用該技術(shù)設(shè)計了一個簡單的多層吸波材料的反射率優(yōu)化軟件，該軟件由吸收劑電磁參數(shù)數(shù)據(jù)庫管理程序與多層吸波材料的反射率優(yōu)化軟件兩部分組成。 吸收劑電磁參數(shù)數(shù)據(jù)庫管理程序可以方便的管理，利用大量材料的電磁參數(shù)，并為優(yōu)化軟件提供數(shù)據(jù)源；程序?qū)⑵溆脩舴譃槿齻€級別的權(quán)限來防止數(shù)據(jù)庫中的數(shù)據(jù)被錯誤操作而損壞；程序還可以防止測量誤差較大的數(shù)據(jù)被導(dǎo)入到數(shù)據(jù)庫，對后續(xù)優(yōu)化計算造成不

2、利影響。 多層吸波材料的反射率優(yōu)化軟件以一定頻帶下的最大反射率或者某一反射率下的最大頻帶寬度為目標(biāo)函數(shù)來進(jìn)行優(yōu)化設(shè)計，采用了三種不同遺傳算法來進(jìn)行對比研究。三種遺傳算法的差別在于選擇操作中是否運(yùn)用適應(yīng)值比例策略及精英保留策略；交叉及變異操作中是否引入自適應(yīng)的交叉，變異概率因子。 對于優(yōu)化程序的計算實(shí)例分析表明，三種算法都不能給出全局最優(yōu)值，都只能給出局部最優(yōu)值。這些局部最優(yōu)值對于實(shí)際研究仍然是有一定指導(dǎo)意義的。當(dāng)材料種類