納米光纖探針制備及其在基于SPR光纖傳感系統(tǒng)中的應(yīng)用研究.pdf

1、本文的主要目的是制備一種可以應(yīng)用于進(jìn)行單細(xì)胞內(nèi)無(wú)損熒光檢測(cè)的納米光纖探針，并對(duì)制作好的光纖探針進(jìn)行鍍膜處理。另外，組織搭建一個(gè)基于表面等離子體共振(SPR)的光纖傳感系統(tǒng)測(cè)試平臺(tái)，并嘗試應(yīng)用制作和處理好的光纖探針作為傳感探頭進(jìn)行初步測(cè)試，以期建立新的適用于單細(xì)胞非熒光方式檢測(cè)的方法。 通過(guò)分析不同的光纖探針制作方法對(duì)探針錐形結(jié)構(gòu)及其表面狀態(tài)的影響，以及鍍膜光纖探針錐形形狀對(duì)傳輸特性的影響，找到了適合用于單細(xì)胞熒光分析的納米光纖探

2、針的結(jié)構(gòu)參數(shù)。應(yīng)用以加熱熔融拉伸為主，必要時(shí)應(yīng)用化學(xué)腐蝕作以修飾的方法進(jìn)行了納米光纖探針的制作，并對(duì)制作探針過(guò)程中所出現(xiàn)的問(wèn)題作了分析研究，獲得了合理有效的探針制作參數(shù)和方法。應(yīng)用真空濺射和化學(xué)鍍膜兩種方法對(duì)制作的光纖探針進(jìn)行了鍍膜處理，并對(duì)這兩種鍍膜方法及其鍍膜效果作了比較分析，獲得了有效合理的鍍膜參數(shù)。 最終，制作完成了適合單細(xì)胞內(nèi)熒光分析的納米光纖探針。實(shí)驗(yàn)得到的光纖探針尖端直徑在48～80nm之間，符合細(xì)胞內(nèi)無(wú)損測(cè)量要求