回歸測(cè)試中路徑覆蓋生成技術(shù)研究與應(yīng)用.pdf

1、回歸測(cè)試是在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中為確保軟件質(zhì)量進(jìn)行的一種常用的驗(yàn)證測(cè)試方法。針對(duì)如何減少回歸測(cè)試成本、如何進(jìn)行測(cè)試用例選擇，以提高測(cè)試效率是回歸測(cè)試研究中的一項(xiàng)重要工作。 基于邊覆蓋的路徑覆蓋估測(cè)法可實(shí)現(xiàn)在程序動(dòng)態(tài)執(zhí)行中獲取用于測(cè)試用例選擇的數(shù)據(jù)信息，但存在估測(cè)精確率不高，對(duì)重疊路徑的識(shí)別能力差以及循環(huán)結(jié)構(gòu)對(duì)可執(zhí)行路徑數(shù)目的影響等缺陷，本文針對(duì)這些缺陷，提出了一種新的路徑覆蓋生成方法來(lái)獲取程序執(zhí)行的路徑信息，該方法相對(duì)于邊覆蓋估測(cè)法具

2、有較高的路徑覆蓋精度和路徑覆蓋生成效率。本文首先介紹了該方法的基本思想，描述了路徑覆蓋生成過(guò)程，包括CFG圖到DAG圖的轉(zhuǎn)換和還原、利用DFS深度優(yōu)先策略構(gòu)造DAG圖的chord生成樹(shù)等。特別地，對(duì)生成過(guò)程中所應(yīng)用的BL*算法、事件計(jì)數(shù)算法以及插裝計(jì)數(shù)算法進(jìn)行了詳細(xì)描述和分析，包括算法思想和算法實(shí)現(xiàn)過(guò)程。然后研究了該方法在回歸測(cè)試中的應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)了基于該方法的測(cè)試數(shù)據(jù)集生成以及最小回歸測(cè)試集生成。 最后，將路徑覆蓋生成方法應(yīng)用于上