高頻寬帶多擲PIN開關(guān)研究.pdf

1、PIN開關(guān)是一種廣泛采用的微波半導(dǎo)體控制器件，高頻、寬帶、多擲一直是其設(shè)計(jì)難點(diǎn)所在。PIN開關(guān)的設(shè)計(jì)中需要對(duì)開關(guān)電路進(jìn)行準(zhǔn)確仿真，然而高頻、寬帶、多擲PIN開關(guān)受裝配工藝的限制，開關(guān)公共結(jié)點(diǎn)附近存在著串聯(lián)諧振和相互耦合，給PIN開關(guān)的準(zhǔn)確仿真帶來了困難：二維仿真軟件很難對(duì)電路進(jìn)行準(zhǔn)確建模，仿真誤差較大；三維仿真軟件耗時(shí)過長，難以在實(shí)際設(shè)計(jì)中應(yīng)用。本文在對(duì)幾種影響開關(guān)性能的因素進(jìn)行詳細(xì)分析之后，提出了一種簡化仿真電路模型，并采用二維——三

2、維混合仿真方法對(duì)開關(guān)電路進(jìn)行了仿真和優(yōu)化。根據(jù)所建電路模型，實(shí)現(xiàn)了一種寬帶、多擲（8－18GHz、SP8T）PIN開關(guān)，開關(guān)實(shí)測技術(shù)指標(biāo)與仿真結(jié)果吻合。
　　鑒于PIN開關(guān)有承受更大的射頻功率傾向和梁式引線PIN二極管散熱較差的事實(shí)，本文提出了一種替代法進(jìn)行功率驗(yàn)證。由于開關(guān)損壞的主要原因是過熱損壞，對(duì)PIN二極管進(jìn)行熱阻和功耗測試以準(zhǔn)確估計(jì)器件的內(nèi)部溫升是非常必要的。該方法以PIN二極管作為感溫元件和發(fā)熱元件，采用功率脈沖源來代