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1、半導體斷路開關(guān)SOS(SemiconductorOpeningSwitch)是一種脈沖功率斷路開關(guān),它具有大電流、高電壓、高di/dt、長壽命和高重復頻率等特點。電感儲能和斷路開關(guān)在脈沖功率技術(shù)中發(fā)展迅速,由于電感儲能中磁場能量密度比電容儲能中電場能量高兩個數(shù)量級,基于SOS的脈沖功率發(fā)生器有著十分廣闊的應用領(lǐng)域和市場前景。 SOS是一種具有p+-p-n-n+結(jié)構(gòu)的二極管,本文主要研究了這種新器件的關(guān)斷機制并對SOS效應進行測試
2、。介紹了一種物理數(shù)學模型可分析大注入條件下電子—空穴動力學。模型考慮了實際的半導體結(jié)構(gòu)摻雜剖面和以下的一些電子—空穴基本運動過程:強場中載流子的擴散和漂移;深能級雜質(zhì)的復合;俄歇復合;密集等離子體的碰撞離子化?;诖四P偷姆抡娼Y(jié)果顯示二極管中的電流關(guān)斷首先發(fā)生在高摻雜的p區(qū),而不是在低摻雜的n區(qū),代表著半導體器件中一種新的電流關(guān)斷理論。 基于SOS雙回路泵浦電路原理搭建了SOS效應測試電路,對樣品Ⅰ(實驗室研制二極管)和樣品Ⅱ(
3、快恢復二極管)進行測試。樣品Ⅰ反向過電壓系數(shù)Kov最高可達1.9,反向過電壓半高脈寬tP最小可達120ns,器件特性更接近于SOS效應。測試過程中減小泵浦電容和電感的參數(shù)值,均會使二極管tP變窄。泵浦電容和泵浦電壓的減小均會使注入二極管的電荷減少,使其產(chǎn)生的反向過電壓減小。負載阻抗的變化也會影響二極管的測試特性。 針對SOS二極管的結(jié)構(gòu)和實驗室的條件,設計了制備器件的工藝流程,并采用化學腐蝕減薄的方法取代了傳統(tǒng)的研磨減薄工藝。通
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