nbt47013.3-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)-河南省鍋爐壓力容器

1、NB/T47013.3-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè),開(kāi)封空分集團(tuán)有限公司姜海,NB/T47013.3標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展1、JB4730-94 第三篇 超聲檢測(cè) 包括鋼板、鍛件、復(fù)合鋼板、無(wú)縫鋼管、高壓螺栓件、奧氏體鋼鍛件、鋼焊縫、不銹鋼堆焊層、鋁焊縫、超聲測(cè)厚等；2、 JB/T4730.3-2005 去除了超聲測(cè)厚，增加了小徑管對(duì)接焊縫、奧氏體不銹鋼焊縫、T型焊接接頭、在用設(shè)備、測(cè)高、動(dòng)態(tài)波型等，基本覆蓋了承

2、壓設(shè)備部件的超聲檢測(cè)；3、NB/T47013-2015 恢復(fù)了超聲測(cè)厚并增加了不銹鋼堆焊層的超聲測(cè)厚，擴(kuò)大了適用范圍，更多地采用了歐標(biāo)，體現(xiàn)了與國(guó)際接軌的發(fā)展方向。,一、NB/T47013-2015的主要技術(shù)變化,1、增加了第3章“術(shù)語(yǔ)和定義”，包括把原JB/T4730.1中的 有關(guān)超聲檢測(cè)的術(shù)語(yǔ)和定義；2、用GB/T 27664.1《無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第1部分 ：儀器》替代JB/T 100

3、61《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條 件》，對(duì)超聲檢測(cè)設(shè)備提出了更科學(xué)的要求；3、增加了超聲檢測(cè)儀和探頭的具體性能指標(biāo)要求；4、增加了超聲檢測(cè)儀和探頭的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求；5、增加了“安全要求”，對(duì)人員在超聲檢測(cè)中的安全提出了要求；6、增加了工藝文件的要求，并列出了制訂工藝規(guī)程的相關(guān)因素；,7、重新對(duì)本部分所用試塊類型進(jìn)行了劃分，主要按國(guó)內(nèi)相關(guān)通用的規(guī)定進(jìn)行劃分，而不是在本部分自行劃定標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊的

4、類型；8、調(diào)整了“承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)”內(nèi)容的順序，按板材、復(fù)合板、碳鋼和低合金鋼鍛件、鋼螺栓坯件、奧氏體鋼鍛件、無(wú)縫鋼管等進(jìn)行編寫(xiě)；9、合并了碳素鋼和低合金鋼鋼板、鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材、奧氏體不銹鋼及雙相不銹鋼鋼板等超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。重新設(shè)計(jì)了對(duì)比試塊。檢測(cè)靈敏度主要以對(duì)比試塊平底孔距離波幅曲線來(lái)確定。修改了質(zhì)量等級(jí)要求，各個(gè)級(jí)別的合格指標(biāo)均有所嚴(yán)格，JB/T 4730.

5、3—2005的板材檢測(cè)質(zhì)量等級(jí)要求偏低，已難以控制板材質(zhì)量要求，且和ISO、歐盟EN等標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)質(zhì)量要求的具體指標(biāo)有較大差距，故參考?xì)W盟EN等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)質(zhì)量分級(jí)進(jìn)行了修訂；10、整合了2005版中“承壓設(shè)備對(duì)接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)”和 “承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí)”兩章內(nèi)容。 按焊接接頭類型、工件厚度及檢測(cè)面曲率大小等內(nèi)容進(jìn)行分類 ；,11、對(duì)承壓設(shè)備焊接接頭工件厚度的適用范圍從8mm～400mm擴(kuò)大到了6～50

6、0mm；12、重新設(shè)計(jì)了CSK-IIA和CSK-IVA試塊上人工反射體的位置和數(shù)量。這樣既保證檢測(cè)區(qū)域覆蓋，又適用于直探頭檢測(cè)焊接接頭基準(zhǔn)靈敏度的調(diào)節(jié)。新CSK-IIA試塊適用工件厚度范圍為6mm～200mm，該試塊主要參考?xì)W盟(EN)和日本(JIS)標(biāo)準(zhǔn)，人工反射體直徑仍為φ2mm ；新CSK-IVA試塊適用工件厚度大于200mm～500mm。CSK-IVA試塊主要在參考美國(guó)ASME規(guī)范的基礎(chǔ)上進(jìn)行了改進(jìn)，人工反射體直徑統(tǒng)一為φ6m

7、m；13、細(xì)化了不同類型焊接接頭超聲檢測(cè)要求。涉及內(nèi)容包括平板對(duì)接接頭、T型焊接接頭、插入式接管角接接頭、L型焊接接頭、安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭、十字焊接接頭、嵌入式接管與筒體（或封頭）對(duì)接接頭等；,14、重新設(shè)計(jì)了GS試塊。增加了圓弧反射面等。主要有利于弧面探頭的時(shí)基線調(diào)整；15、對(duì)焊接接頭質(zhì)量等級(jí)中對(duì)Ⅰ區(qū)非裂紋類缺陷的長(zhǎng)度給出了限制；16、調(diào)整了涉及焊接接頭超聲檢測(cè)的整體編制結(jié)構(gòu)，把接管與筒體(封頭)角接接頭超聲檢測(cè)

8、方法、T型焊接接頭超聲檢測(cè)方法、堆焊層超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)等放入了附錄；17、根據(jù)實(shí)際檢驗(yàn)檢測(cè)需要，增加了“承壓設(shè)備厚度超聲測(cè)量方法”，包括不銹鋼堆焊層厚度的測(cè)量方法；18、對(duì)在用承壓設(shè)備進(jìn)行超聲檢測(cè)時(shí)，增加了根據(jù)使用過(guò)程中可能造成主體材料、零部件或焊接接頭的失效模式，或者風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估（RBI）的分析結(jié)果等選擇超聲檢測(cè)技術(shù)、檢測(cè)部位和檢測(cè)比例。,二、標(biāo)準(zhǔn)修改及內(nèi)容解析,1 范圍修改概述：增加了條文1.3 承壓設(shè)備厚度的超聲測(cè)量方

9、法，原來(lái) JB4730-94有超聲測(cè)厚內(nèi)容，但JB/T4730.3-2005沒(méi)有列入。1.1 NB/T 47013（JB/T 4730）的本部分規(guī)定了承壓設(shè)備采用A型脈沖反射式超聲檢測(cè)儀檢測(cè)工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)要求。1.2 本部分適用于金屬材料制承壓設(shè)備用原材料或零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè)，也適用于金屬材料制在用承壓設(shè)備的超聲檢測(cè)。1.3 本部分規(guī)定了承壓設(shè)備厚度的超聲測(cè)量方法。1.4 與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件

10、和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè)，也可參照本部分使用。,2 規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T11259無(wú)損檢測(cè) 超聲波檢測(cè)用鋼參考試塊的制作與檢驗(yàn)方法GB/T12604.1 無(wú)損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)GB/T27664.1 無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第1部分：儀器GB/T27664

11、.2 無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè)設(shè)備的性能與檢驗(yàn) 第2部分：探頭JB/T8428 無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè)用試塊JB/T9214 無(wú)損檢測(cè) A型脈沖反射式超聲檢測(cè)系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法JB/T10062 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法NB/T47013.1 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第1部分：通用要求,三、標(biāo)準(zhǔn)修改及內(nèi)容解析,解釋：GB/T 11259 -2008替代JB/T 7913-1995；GB/T 12604.1-2005替代GB/T

12、 12604.1-1990；（最新版本）GB/T 27664.1 -2011替代JB/T 10061-1999；GB/T 27664.2 -2011替代JB/T 10062-1999；JB/T 9214-2010替代JB/T 9214 -1999；（除儀器和探頭組合頻率的測(cè)試方法外）JB/T 8428-2006替代JB/T 10063-1999。,3 術(shù)語(yǔ)和定義修改概述：重新定義了基準(zhǔn)靈敏度和掃查靈敏度，增加了“工件厚度”。

13、GB/T 12604.1和NB/T 47013.1界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本部分。3.1 底波降低量BG/BF 鍛件檢測(cè)時(shí)，在靠近缺陷處的完好區(qū)域內(nèi)第一次底面回波波幅BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底面回波波幅BF的比值，用dB值來(lái)表示。3.2 密集區(qū)缺陷鍛件檢測(cè)時(shí)，在顯示屏掃描線上相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào)，或是在50×50mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信

14、號(hào)，其反射波幅均大于等于某一特定當(dāng)量平底孔的缺陷。,3.3 基準(zhǔn)靈敏度將對(duì)比試塊人工反射體回波高度或被檢工件底面回波高度調(diào)整到某一基準(zhǔn)時(shí)的靈敏度。3.4 掃查靈敏度 在基準(zhǔn)靈敏度基礎(chǔ)上，根據(jù)表面狀況、檢測(cè)缺陷要求及探頭類型等適當(dāng)提高dB數(shù)（增益）進(jìn)行實(shí)際檢測(cè)的靈敏度。 3.5缺陷自身高度 缺陷在工件厚度方向上的尺寸。3.6回波動(dòng)態(tài)波形 回波動(dòng)態(tài)波形是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線。,3.7 工件厚度ta

15、） 對(duì)于平板對(duì)接接頭，焊縫兩側(cè)母材厚度相等時(shí)，工件厚度t為母材厚度；焊縫兩側(cè)母材厚度不等時(shí)，工件厚度t為薄側(cè)母材公稱厚度；b） 對(duì)于插入式接管角接接頭，工件厚度t為筒體或封頭公稱厚度；安放式接管與筒體（或封頭）角接接頭，工件厚度t為接管公稱厚度；c） 對(duì)于T型焊接接頭，工件厚度t為腹板公稱厚度。解釋： 根據(jù)實(shí)際需要明確了幾種工件的厚度，把工件厚度作為確定對(duì)比試塊類型、檢測(cè)靈敏度大小及質(zhì)量分級(jí)的參數(shù)固定下來(lái) 。,4

16、 一般要求4.1 人員修改概述：增加了4.1.2條文。4.1.1 超聲檢測(cè)人員的一般要求應(yīng)符合NB/T 47013.1的有關(guān)規(guī)定。4.1.2 超聲檢測(cè)人員應(yīng)具有一定的金屬材料、設(shè)備制造安裝、焊接及熱處理等方面的基本知識(shí)，應(yīng)熟悉被檢工件的材質(zhì)、幾何尺寸及透聲性等，對(duì)檢測(cè)中出現(xiàn)的問(wèn)題能作出分析、判斷和處理。解釋：對(duì)超聲檢測(cè)人員提出了更高的要求，即不僅會(huì)操作儀器，還要具備一定的基礎(chǔ)知識(shí)，并對(duì)檢測(cè)出現(xiàn)的問(wèn)題作出判定，這一點(diǎn)對(duì)

17、超聲檢測(cè)來(lái)說(shuō)尤為重要。,4.2 設(shè)備和器材修改概述：對(duì)設(shè)備、探頭、試塊和耦合劑等都提出了新的要求。4.2.1 設(shè)備和器材產(chǎn)品質(zhì)量合格證超聲檢測(cè)儀產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出預(yù)熱時(shí)間、低電壓報(bào)警或低電壓自動(dòng)關(guān)機(jī)電壓、發(fā)射脈沖重復(fù)頻率、有效輸出阻抗、發(fā)射脈沖電壓、發(fā)射脈沖上升時(shí)間、發(fā)射脈沖寬度（采用方波脈沖作為發(fā)射脈沖的）和接收器頻帶等主要性能參數(shù)；探頭產(chǎn)品質(zhì)量合格證中至少應(yīng)給出中心頻率、帶寬、電阻抗或靜電容、相對(duì)脈沖回波靈敏度、脈

18、沖寬度以及聲束性能（包括探頭入射點(diǎn)、折射角（K值）、主聲束偏離、偏向角及偏移、聲束擴(kuò)散角等）等主要參數(shù)。 解釋：2005版只要求超聲檢測(cè)設(shè)備具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件?，F(xiàn)列出了至少要包括的項(xiàng)目，并有相應(yīng)指標(biāo)的要求。,4.2.2 檢測(cè)儀器、探頭和系統(tǒng)性能4.2.2.1 檢測(cè)儀器采用A型脈沖反射式超聲檢測(cè)儀，其工作頻率按-3dB測(cè)量應(yīng)至少包括0.5MHz～10MHz頻率范圍，超聲儀器各性能指標(biāo)和測(cè)試條件按照附錄A（規(guī)范性

19、附錄）中的要求，測(cè)試方法按GB/T 27664.1的規(guī)定。解釋：工作頻率范圍為0.5～10MHz，應(yīng)按-3dB法測(cè)量得出；其他性能指標(biāo)見(jiàn)附錄A。,4.2.2.2 探頭圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm，方形晶片任一邊 長(zhǎng)一般不應(yīng)大于40mm，其性能指標(biāo)應(yīng)符合附錄B（規(guī)范性附錄）的要求，測(cè)試方法按GB/T 27664.2的規(guī)定。4.2.2.3 儀器和探頭的組合性能4.2.2.3.1 儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂

20、直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力。4.2.2.3.2 以下情況時(shí)應(yīng)測(cè)定儀器和探頭的組合性能：a) 新購(gòu)置的超聲儀器和（或）探頭；b) 儀器和探頭在維修或更換主要部件后；c) 檢測(cè)人員有懷疑時(shí)。解釋：晶片尺寸上限，從25mm放寬到40mm。探頭性能指標(biāo)見(jiàn)附錄B，比2005版標(biāo)準(zhǔn)的要求具體且全面。,4.2.2.3.3 水平線性偏差不大于1%，垂直線性偏差不大于5%。4.2.2.3.4 儀器和

21、探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之間偏差不得大于±10%。4.2.2.3.5 儀器-直探頭組合性能要求a) 靈敏度余量應(yīng)不小于32dB；b) 在基準(zhǔn)靈敏度下，對(duì)于標(biāo)稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)不大于10mm；對(duì)于標(biāo)稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)不大于15mm；c) 直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力不小于20dB。解釋：靈敏度余量為新增加要求；直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力從30dB改為20dB。,4.2.2.3.6 儀器-斜探頭組合性能要

22、求a) 靈敏度余量應(yīng)不小于42dB；b) 斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力不小于12dB。4.2.2.3.7 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB4.2.2.3.8 儀器和探頭組合頻率的測(cè)試方法按JB/T 10062的規(guī)定，其它組合性能的測(cè)試方法按JB/T 9214的規(guī)定。解釋：靈敏度余量為新增加要求；斜探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力從6dB改為12dB。,4.2.3 試塊修改概述：對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊重新進(jìn)行定義，

23、與2005版有較大的不同。4.2.3.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊4.2.3.1.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊是指具有規(guī)定的化學(xué)成分、表面粗糙度、熱處理及幾何形狀的材料塊，用于評(píng)定和校準(zhǔn)超聲檢測(cè)設(shè)備，即用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)的試塊。本部分采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為20號(hào)優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制的CSK-IA、DZ-1和DB-PZ20-2。4.2.3.1.2 CSK-IA試塊的具體形狀、尺寸見(jiàn)本部分。 DZ-1和DB-PZ20-2的具體形狀和尺寸見(jiàn)JB/T9214。4.2

24、.3.1.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊制造商應(yīng)滿足JB/T8428的要求，試塊制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確保在相同測(cè)試條件下比較其所制造的每一標(biāo)準(zhǔn)試塊與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同種反射體（面）時(shí)，其最大反射波幅差應(yīng)小于等于2dB。,JB/T9214-2010標(biāo)準(zhǔn)試塊：DZ-1和DB-PZ20-2用途： DB-P Z20-2測(cè)定直探頭垂直線性和直探頭靈敏度余量DZ-1和DB-PZ20-2組合，測(cè)定直探頭盲區(qū),4.2.3

25、.2 對(duì)比試塊4.2.3.2.1 對(duì)比試塊是指與被檢件或材料化學(xué)成分相似，含有意義明確參考反射體（反射體應(yīng)采用機(jī)加工方式制作）的試塊，用以調(diào)節(jié)超聲檢測(cè)設(shè)備的幅度和聲程，以將所檢出的缺陷信號(hào)與已知反射體所產(chǎn)生的信號(hào)相比較，即用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊。4.2.3.2.2 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到不同工件厚度對(duì)接焊接接頭的檢測(cè)，試塊厚度的選擇應(yīng)由較大工件厚度確定。解釋：對(duì)于

26、不等厚工件，靈敏度按薄的選擇，試塊厚度按厚的選擇。,4.2.3.2.3 對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢材料聲學(xué)性能相同或相似的材料制成，當(dāng)采用直探頭檢測(cè)時(shí)，不得有大于或等于φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。4.2.3.2.4 不同被檢工件超聲檢測(cè)用對(duì)比試塊人工反射體的形狀、尺寸和數(shù)量應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。4.2.3.2.5 對(duì)比試塊的尺寸精度在本部分有明確要求時(shí)應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件，無(wú)明確要求時(shí)參照GB/T8428的規(guī)定。,4.2.4 耦

27、合劑4.2.4.1 耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測(cè)表面，如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等。4.2.4.2 耦合劑污染物含量的控制4.2.4.2.1 鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/L。4.2.4.2.2 奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250mg/L。解釋：對(duì)使用在奧氏體不銹鋼、鎳基合金和鈦材上的耦合劑規(guī)定了污染物含量要求，避免因耦合劑污染物的殘留對(duì)工件造成腐蝕，也是與國(guó)際標(biāo)

28、準(zhǔn)接軌。,4.2.5 超聲檢測(cè)設(shè)備和器材的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求4.2.5.1 校準(zhǔn)、核查和運(yùn)行核查應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，應(yīng)使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。4.2.5.2 校準(zhǔn)或核查4.2.5.2.1 每年至少對(duì)超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨力和儀器的衰減器精度，進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4

29、.2.5.2.2 每年至少對(duì)標(biāo)準(zhǔn)試塊與對(duì)比試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次核查。4.2.5.3 運(yùn)行核查4.2.5.3.1 模擬超聲檢測(cè)儀每隔3個(gè)月或數(shù)字超聲檢測(cè)儀每隔6月至少對(duì)儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。,4.2.5.3.2 每3個(gè)月至少對(duì)盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量和分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行核查并記錄，測(cè)試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。4.2.5

30、.4 檢查4.2.5.4.1 每次檢測(cè)前應(yīng)對(duì)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開(kāi)機(jī)信號(hào)顯示等情況是否正常。4.2.5.4.2 使用斜探頭時(shí)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定入射點(diǎn)（前沿距離）和折射角（K值）。4.2.5.5 校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)的注意事項(xiàng)校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查時(shí)，應(yīng)將影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等）均置于“關(guān)”的位置或處于最低水平上。解釋：為了提高超聲檢測(cè)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、結(jié)論可靠，加強(qiáng)了對(duì)儀器、探頭和試塊的校準(zhǔn)

31、或核查。,4.3 工藝文件4.3.1 工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書(shū)。4.3.2 工藝規(guī)程除滿足NB/T 47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定表1和相關(guān)章節(jié)所列相關(guān)因素的具體范圍或要求。相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時(shí)，應(yīng)重新編制或修訂進(jìn)行工藝規(guī)程。4.3.3 應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測(cè)要求編制操作指導(dǎo)書(shū)。其內(nèi)容除滿足NB/T 47013.1的要求外，至少還應(yīng)包括：a）檢測(cè)技術(shù)要求：檢測(cè)技術(shù)（直探頭檢測(cè)、斜探頭檢測(cè)、直

32、接接觸法、液浸法等）和檢測(cè)波形等；b）檢測(cè)對(duì)象：承壓設(shè)備類別，檢測(cè)對(duì)象的名稱、規(guī)格、材質(zhì)和熱處理狀態(tài)、檢測(cè)部位等；c）檢測(cè)設(shè)備器材：儀器型號(hào)、探頭規(guī)格、耦合劑、試塊種類，儀器和探頭性能檢測(cè)的項(xiàng)目、時(shí)機(jī)和性能指標(biāo)等；,d）檢測(cè)工藝相關(guān)技術(shù)參數(shù)：掃查方向及掃查范圍、缺陷定量方法、檢測(cè)記錄和評(píng)定要求、檢測(cè)示意圖等。4.3.4 操作指導(dǎo)書(shū)在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證，驗(yàn)證方式可在相關(guān)對(duì)比試塊上進(jìn)行，驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測(cè)范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是

33、否滿足檢測(cè)要求。,解釋：本條為新增條款；工藝文件有工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書(shū)。參照ASME規(guī)范，列出了規(guī)程應(yīng)包括的相關(guān)因素；參照ASME規(guī)范應(yīng)對(duì)規(guī)程進(jìn)行演示的要求，本條規(guī)定了規(guī)程首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行工藝驗(yàn)證。但這種驗(yàn)證采取一種簡(jiǎn)化的方法，即可在相關(guān)的對(duì)比試塊上進(jìn)行。驗(yàn)證內(nèi)容包括檢測(cè)范圍內(nèi)靈敏度、信噪比等是否滿足檢測(cè)要求。,4.4 安全要求檢測(cè)場(chǎng)所、環(huán)境及安全防護(hù)應(yīng)符合NB/T 47013.1的規(guī)定。解釋：本條為新增條款，按標(biāo)準(zhǔn)的

34、統(tǒng)一要求增加?，F(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)應(yīng)以安全第一。較差的條件，如交叉作業(yè)、高空作業(yè)、空間受限及存在可燃?xì)怏w和有毒有害物質(zhì)等等，容易使檢測(cè)人員受到傷害，所以必須采取可靠的防范措施。,4.5 檢測(cè)實(shí)施 4.5.1 檢測(cè)準(zhǔn)備4.5.1.1 在承壓設(shè)備的制造、安裝及在用檢驗(yàn)中，超聲檢測(cè)時(shí)機(jī)及檢測(cè)比例的選擇等應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的規(guī)定。4.5.1.2 所確定的檢測(cè)面應(yīng)保證工件被檢部分能得到充分檢測(cè)。4.5.1.3 焊縫的表面質(zhì)

35、量應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格。檢測(cè)面（探頭經(jīng)過(guò)的區(qū)域）上所有影響檢測(cè)的油漆、銹蝕、飛濺和污物等均應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不應(yīng)影響檢測(cè)結(jié)果的有效性。,4.5.2 掃查覆蓋為確保檢測(cè)時(shí)超聲聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5%或優(yōu)先滿足相應(yīng)章節(jié)的檢測(cè)覆蓋要求。4.5.3 探頭的移動(dòng)速度探頭的掃查速度一般不應(yīng)超過(guò)150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，掃查速度應(yīng)通過(guò)對(duì)

36、比試驗(yàn)進(jìn)行確定。4.5.4 掃查靈敏度掃查靈敏度的設(shè)置應(yīng)符合相關(guān)章節(jié)的規(guī)定。,4.5.6 靈敏度補(bǔ)償a） 耦合補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由對(duì)比試塊與被檢工件表面粗糙度不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償；b） 衰減補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由對(duì)比試塊與被檢工件材質(zhì)衰減不同引起的靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償；c） 曲面補(bǔ)償：在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，對(duì)檢測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)對(duì)由工件和對(duì)比試塊曲率半徑不同引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。

37、,4.5.6 儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.5.6.1 發(fā)生以下情況時(shí)應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：a） 探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)發(fā)生改變時(shí)；b） 懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；c） 連續(xù)工作4h以上時(shí)；d） 工作結(jié)束時(shí)。4.6.6.2 掃描量程的復(fù)核如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線該點(diǎn)讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。,4.6.6.3 掃查靈敏度的復(fù)核復(fù)核時(shí)，

38、在檢測(cè)范圍內(nèi)如發(fā)現(xiàn)掃查靈敏度或距離—波幅曲線上任一深度人工反射體回波幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。解釋：與原版基本一致；按ASME規(guī)范，補(bǔ)充了“全掃描量程的5%”的要求。要求更嚴(yán)。,5 承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)5.1 范圍 本章規(guī)定了承壓設(shè)備用原材料或零部件的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。5.2 承壓設(shè)備用原材料或零

39、部件的超聲檢測(cè)工藝文件原材料或零部件的超聲檢測(cè)工藝文件應(yīng)滿足4.3的要求之外，還應(yīng)包括表2所列的相關(guān)因素。,表2 原材料或零部件超聲檢測(cè)工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素,板材檢測(cè)概述,加工方式：由板坯軋制而成。主要缺陷：分層、折疊、白點(diǎn)、裂紋等，分層和折疊大都平行于表面，白點(diǎn)和裂紋具有不同的方向。檢測(cè)方法：直探頭（檢測(cè)分層、折疊） 斜探頭（檢測(cè)白點(diǎn)、裂紋）主要國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：1、JIS G0801

40、壓力容器用鋼板超聲檢測(cè)；2、BS EN 10160 厚度大于等于6mm鋼板的超聲檢測(cè)；3、ASME規(guī)范,5.3 承壓設(shè)備用板材超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)5.3.1 范圍5.3.1.1 本條適用于板厚≥6mm～250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量分級(jí)。5.3.1.2 鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材、鎳及鎳合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測(cè)方法參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級(jí)按本條。5.3.1.3 奧氏體

41、不銹鋼和奧氏體-鐵素體雙相不銹鋼板材超聲檢測(cè)方法可參照本條執(zhí)行，質(zhì)量分級(jí)按本條。解釋：增加了鋁及鋁合金板材、鈦及鈦合金板材和銅及銅合金板材的超聲檢測(cè)。,5.3.2 檢測(cè)原則5.3.2.1 板材一般采用直探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.3.2.2 在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。5.3.2.3 可選板材的任一軋制表面進(jìn)行檢測(cè)。若檢測(cè)人員認(rèn)為需要或技術(shù)條件有要求時(shí)，也可選板材的上、下兩軋制表面

42、分別進(jìn)行檢測(cè)。解釋：基本內(nèi)容與2015版相同，增加了5.3.2.1條款，強(qiáng)調(diào)了以直探頭為主進(jìn)行檢測(cè)，在檢測(cè)過(guò)程中對(duì)缺陷有疑問(wèn)或合同雙方技術(shù)協(xié)議中有規(guī)定時(shí)，可采用斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。在板材的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測(cè)一般較少使用，要求很高。,5.3.3 探頭選用5.3.3.1 直探頭5.3.3.1.1 直探頭選用應(yīng)按表3的規(guī)定進(jìn)行。5.3.3.1.2 當(dāng)采用液浸法檢測(cè)板厚小于等于20mm的板材時(shí)，也可選用單晶直探頭進(jìn)行檢

43、測(cè)。5.3.3.1.3 雙晶直探頭性能應(yīng)符合附錄C（規(guī)范性附錄）的要求。,,解釋：增加了條款5.3.3.1.2，采用液浸法時(shí)，由于盲區(qū)在液體中，所以可以使用單晶直探頭；與2005版相比，降低了對(duì)探頭頻率和尺寸的要求，有更大的選擇范圍，但應(yīng)注意頻率和晶片尺寸對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響；板厚20mm～60mm時(shí)也可使用雙晶探頭，但這對(duì)雙晶探頭的要求更高。,5.3.3.2 斜探頭斜探頭的選用應(yīng)按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。5.3.4

44、 對(duì)比試塊5.3.4.1 用雙晶直探頭檢測(cè)厚度不大于20mm的板材時(shí)，可以采用如圖1所示的階梯平底試塊。5.3.4.2 檢測(cè)厚度大于20mm的板材時(shí)，對(duì)比試塊形狀和尺寸應(yīng)符合表4和圖2的規(guī)定。對(duì)比試塊人工反射體為φ5mm平底孔，反射體個(gè)數(shù)至少3個(gè)。,解釋：本次修訂對(duì)兩種試塊都進(jìn)行了較大的改動(dòng)。階梯平底試塊是為了適應(yīng)新的厚度，最大厚度至60mm。φ5mm平底孔對(duì)比試塊修改的原因是：從JB 1150-73到JB/T 4730

45、.3-2005，鋼板檢測(cè)用對(duì)比試塊均為單一平底孔試塊，即只用一個(gè)φ5mm平底孔進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)，這是一種比較粗略的檢測(cè)方法，檢測(cè)時(shí)各個(gè)深度的靈敏度是不一致的，見(jiàn)如下舉例：,,例如，當(dāng)板厚為150mm時(shí)，是將CBII-4試塊φ5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度，這時(shí)的DAC曲線如圖所示。,由圖可見(jiàn)，檢測(cè)用的曲線為一條水平線，一般稱為參考線（ARL），它與φ5平底孔的DAC曲線相交于90mm聲程處。所以，在小于90mm的

46、范圍內(nèi)，靈敏度要高于φ5平底孔，在90mm處，靈敏度等于φ5平底孔，而在大于90mm范圍內(nèi)，靈敏度要比φ5平底孔低。所以，對(duì)鋼板檢測(cè)時(shí)，不同聲程處的靈敏度是不一樣?，F(xiàn)修改為用至少3個(gè)平底孔制作DAC曲線，提高了檢測(cè)結(jié)果的合理性和一致性。φ5mm平底孔對(duì)比試塊共6塊，除1#試塊外，其余可以“以厚代薄”，可根據(jù)本單位的實(shí)際情況購(gòu)買或制作。,5.3.5 靈敏度的確定5.3.5.1 板厚小于等于20mm時(shí)，用圖1所示階梯平底試塊調(diào)節(jié)，

47、也可用被檢板材無(wú)缺陷完好部位調(diào)節(jié)，此時(shí)用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.2 板厚大于20mm時(shí)，按所用探頭和儀器在φ5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線，并以此曲線作為基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.3 如能確定板材底面回波與不同深度φ5平底孔反射波之間的關(guān)系，則可采用板材無(wú)缺陷完好部位第一次底波來(lái)調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度。5.3.5.4 掃查靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6d

48、B。,解釋：板厚小于等于20mm時(shí)，可以使用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，也可以用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度。板厚大于20mm時(shí)，在φ5mm平底孔試塊上繪制距離-波幅曲線調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)注意用雙晶探頭也是如此。5.3.5.3為新增條款。對(duì)板厚大于20mm時(shí)，特別是板厚大于等于探頭3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，如用底波調(diào)節(jié)靈敏度，應(yīng)保證整個(gè)板厚范圍內(nèi)的靈敏度和試塊調(diào)節(jié)的基本一致。檢測(cè)距離大于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，底波和φ5mm平底孔反

49、射波間有較好的對(duì)應(yīng)關(guān)系。但此對(duì)應(yīng)關(guān)系僅適用于3倍近場(chǎng)區(qū)之外的區(qū)域，并不適用整個(gè)板厚區(qū)域，因此檢測(cè)時(shí)可用計(jì)算法或AVG法，有缺陷時(shí)，不同的區(qū)域應(yīng)分別評(píng)定。,問(wèn)題：（1）板厚小于等于20mm時(shí)，雙晶探頭可以用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度，但也可以用與工件等厚部位試塊或被檢板材的第一次底波調(diào)節(jié)靈敏度，那為什么還需要階梯平底試塊？（2）用階梯平底試塊調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，如沒(méi)有相應(yīng)的厚度（如20mm） ，如何調(diào)節(jié)？（3）φ5mm平底孔的間距應(yīng)為多少

50、？,5.3.6 檢測(cè)5.3.6.1 耦合方式耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.3.6.2 靈敏度補(bǔ)償檢測(cè)時(shí)應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行耦合補(bǔ)償和衰減補(bǔ)償。5.3.6.3 掃查方式a） 在板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查，掃查區(qū)域?qū)挾纫?jiàn)表5；b） 在板材中部區(qū)域，探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于50mm的平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿垂直和平行板材壓延方向且間距不大于100mm格子線進(jìn)行掃查。掃查示意圖見(jiàn)圖3；

51、c） 根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查；d） 雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。,解釋：增加了條款“5.3.6.2 靈敏度補(bǔ)償”；板材中部的掃查，把2005版間距不大于100mm平行線改為間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm格子線；板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍的掃查，按EN10160修改，掃查寬度與板厚有關(guān)。2005版規(guī)定“在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm（當(dāng)板厚超過(guò)

52、100mm時(shí)，以板厚的一半為準(zhǔn)）范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查”。,問(wèn)題：（1） 為什么在板材周邊或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)作100%掃查？（2）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書(shū)或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。其他形式的掃查有哪些？（3）雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直。具體如何實(shí)施？,5.3.6.4 斜探頭檢測(cè)按附錄D（規(guī)范性附錄）的規(guī)定進(jìn)行。5.3.7 缺陷的判定和定量5.3.7.1 在檢測(cè)基準(zhǔn)靈敏度條件下

53、，發(fā)現(xiàn)下列兩種情況之一即作為缺陷：a） 缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距離-波幅曲線，或用雙晶探頭檢測(cè)板厚小于20mm板材時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波幅大于或等于顯示屏滿刻度的50%；b） 底面第一次反射波（B1）波幅低于顯示屏滿刻度的50%，即B1＜50%。,解釋：對(duì)缺陷的判定有部分修改，主要有3點(diǎn)：（1）單晶直探頭或 雙晶直探頭（ T>20-60mm） ，﹥100%DAC；（2）雙晶直探頭（T=6～2

54、0mm），≥50%滿屏高度；（3）底波降低量， B1＜50%滿屏高度。應(yīng)特別注意底波降低的原因以及應(yīng)在什么靈敏度下判定？,5.3.7.2 缺陷的定量5.3.7.2.1 雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)缺陷的定量a） 使用雙晶直探頭對(duì)缺陷進(jìn)行定量時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直；b） 板材厚度小于等于20mm時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；c） 板材厚度大于20mm～6

55、0mm時(shí)，移動(dòng)探頭使缺陷波下降到距離-波幅曲線，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；,d） 確定5.3.7.1 b）中缺陷的邊界范圍時(shí)，移動(dòng)探頭使底面第一次反射波上升高到基準(zhǔn)靈敏度條件下顯示屏滿刻度的50%或上升到距離-波幅曲線，此時(shí)探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；e） 缺陷邊界范圍確定后，用一邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長(zhǎng)邊作為缺陷的長(zhǎng)度，矩形面積則為缺陷的指示面積。5.3.7.2.2 單晶直探頭檢測(cè)時(shí)缺陷的定量使用單晶直探頭除

56、按5.3.7.2.1c)、d)、e)的方法對(duì)缺陷進(jìn)行定量外，還應(yīng)記錄缺陷的反射波幅或當(dāng)量平底孔直徑。解釋：采用EN10160規(guī)定的方法，用平行于板材壓延方向的矩形框來(lái)評(píng)定缺陷，直觀且重復(fù)性好。單直探頭需要記錄反射波幅，主要用于評(píng)級(jí)。,5.3.8 缺陷尺寸的評(píng)定方法5.3.8.1 缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定規(guī)則用平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長(zhǎng)邊作為該缺陷的指示長(zhǎng)度。5.3.8.2 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定規(guī)則a） 一個(gè)缺

57、陷按其指示的矩形面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b） 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。,解釋：（1）,（2）多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為各缺陷面積之和。舉例：1）缺陷20×10，間隔18，缺陷30×20，間隔42，缺陷45×202）缺陷20×10，間隔18，缺陷30×

58、;20，間隔28，缺陷40×25,5.3.9 板材質(zhì)量分級(jí)5.3.9.1 板材質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表6和表7。在具體進(jìn)行質(zhì)量分級(jí)要求時(shí)，表6和表7應(yīng)獨(dú)立使用。5.3.9.2 在檢測(cè)過(guò)程中，檢測(cè)人員如確認(rèn)板材中有白點(diǎn)、裂紋等缺陷存在時(shí)，應(yīng)評(píng)為V級(jí)。5.3.9.3 在板材中部檢測(cè)區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m×1m檢測(cè)面積內(nèi)缺陷最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材中部檢測(cè)面積小于1m×1m，缺陷

59、最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。5.3.9.4 在板材邊緣檢測(cè)區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m檢測(cè)長(zhǎng)度內(nèi)最大允許缺陷個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級(jí)。如整張板材邊緣檢測(cè)長(zhǎng)度小于1m，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。,解釋：驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)基本與EN10160相同；中部區(qū)域評(píng)定單個(gè)缺陷指示面積和1×1mm內(nèi)缺陷個(gè)數(shù)；邊緣和坡口區(qū)域評(píng)定單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度、單個(gè)缺陷指示面積和1m長(zhǎng)度內(nèi)缺陷個(gè)數(shù)；注意以下幾點(diǎn)：（1）雙晶

60、探頭僅用缺陷面積分級(jí)（為什么？）（2）單直探頭Ⅰ、Ⅱ級(jí)用缺陷波幅分級(jí)， φ5+8dB大致相當(dāng)于φ8，φ5+14dB大致 相當(dāng)于φ11 。 Ⅲ、Ⅳ級(jí)用缺陷面積分 級(jí)（為什么？）（3）底波降低用缺陷面積分級(jí)。,問(wèn)題：板材檢測(cè)，單直探頭檢測(cè)發(fā)現(xiàn)單個(gè)缺陷當(dāng)量直徑φ5+6dB，測(cè)定缺陷面積S>1000mm2,如何評(píng)級(jí)？請(qǐng)考慮：1、是否有這種可能？2、如果有，如何評(píng)級(jí)？,答：嚴(yán)格來(lái)說(shuō)，單直探頭檢

61、測(cè)時(shí)，如缺陷面積小于聲場(chǎng)截面，用當(dāng)量直徑評(píng)定，如缺陷面積大于聲場(chǎng)截面時(shí)，就用缺陷面積評(píng)定。φ5+8dB=φ8，折算成面積約50mm2；φ5+14dB=φ11，折算成面積約100mm2，與雙晶探頭是對(duì)應(yīng)的。所以，如果缺陷面積大于100mm2，就用面積評(píng)定。,附 錄 C（規(guī)范性附錄）雙晶直探頭性能要求C.1 距離—波幅特性曲線采用圖1所示試塊，在各個(gè)厚度上測(cè)定其回波高度（單位為dB），并作出如圖C.1所示的特性曲線，該特性曲線

62、應(yīng)滿足下述條件：a） 在雙晶直探頭使用范圍的極限厚度上的回波高度，與最大回波高度差應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)；b） 在厚度3mm上的回波高度，與最大回波高度差也應(yīng)在0dB～-6dB范圍內(nèi)。,t0：階梯試塊回波最大時(shí)的厚度t：雙晶探頭使用范圍的極限厚度圖C.1 雙晶直探頭距離—波幅特性曲線,C.2 表面回波高度用直接接觸法的表面回波高度，應(yīng)比圖C.1中t0處最大回波高度低40dB以上。C.3 檢出靈敏度移動(dòng)探頭對(duì)準(zhǔn)圖

63、C.2試塊 φ5.6mm平底孔，其回波高度與最大回波高度差應(yīng)在-10dB±2 dB范圍內(nèi)。C.4 有效波束寬度將探頭對(duì)準(zhǔn)圖C.2試塊φ5.6mm平底孔，并與聲波分割面平行地移動(dòng)，按6dB法測(cè)定波束寬度，對(duì)于承壓設(shè)備用的鋼板檢測(cè)，其有效值應(yīng)大于15mm。,圖C.2 測(cè)定儀器和探頭組合性能試塊,解釋：對(duì)雙晶探頭，一般認(rèn)為焦點(diǎn)波幅上下-6dB為有效檢測(cè)區(qū)域；表面回波高度為探頭發(fā)射聲波在探頭與工件界面反射被探頭接受的回

64、波，它直接決定探頭盲區(qū)的大??；檢出靈敏度，保證檢測(cè)所需要的靈敏度，與頻率、晶片大小等有關(guān)；有效波束寬度，探頭波束要有一定的寬度，取決于聚焦程度和晶片大小。,雙晶探頭表面回波,附錄D（規(guī)范性附錄）承壓設(shè)備用板材斜探頭檢測(cè)D.1 范圍 本附錄規(guī)定了用斜探頭檢測(cè)板材中非夾層性缺陷的超聲檢測(cè)方法，并將其作為直探頭檢測(cè)的補(bǔ)充。D.2 探頭D.2.1 原則上選用折射角為45°（K1）的斜探頭，晶片有效直徑一般應(yīng)在

65、 13mm～ 25mm之間。也可選用其他晶片尺寸和折射角（K值）的探頭。D.2.2 探頭標(biāo)稱頻率為2MHz～5MHz。,D.3 對(duì)比試塊D.3.1 對(duì)比試塊應(yīng)與被檢板材聲學(xué)特性相同或相似，厚度差不超過(guò)10%。D.3.2 對(duì)比試塊上的人工反射體為V形槽，角度為60°，槽深為板厚的3%，槽的長(zhǎng)度至少為25mm。D.3.3 對(duì)比試塊的尺寸、V形槽位置應(yīng)符合圖D.1的規(guī)定。,D.4 距離-波幅曲線的確定D.4.1

66、 厚度小于或等于50mm的板材D.4.1.1 把探頭置于試塊有槽的一面，使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊，找出第一個(gè)全跨距反射的最大波幅，調(diào)整儀器，使該反射波的最大波幅為滿刻度的80%，在顯示屏上記錄下該信號(hào)的位置。D.4.1.2 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動(dòng)探頭，得到第二個(gè)全跨距信號(hào)，并找出信號(hào)最大反射波幅，在顯示屏上記錄下該信號(hào)的位置。D.4.1.3 在顯示屏上將D.4.1.1和D.4.1.2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離-波幅曲

67、線。,D.4.2 厚度大于50mm～250mm的板材D.4.2.1 將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽，并找出第一個(gè)1/2跨距反射的最大波幅。調(diào)節(jié)儀器，使反射波幅為滿刻度的80%，在顯示屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置。D.4.2.2 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài)，移動(dòng)探頭，以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽并獲得最大反射波幅，在顯示屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn)。D.4.2.3 在顯示屏上將D.4.2.1和D.4.2.2所確定的點(diǎn)連成一直線，此線即為距離-波幅曲線。,問(wèn)題：

68、斜探頭檢測(cè)，距離-波幅曲線確定后，檢測(cè)和評(píng)定時(shí)所觀察的區(qū)域范圍是從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域， 還是二個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域？,答：標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有明確說(shuō)明，但通常的做法是從零點(diǎn)到最后一個(gè)V形槽反射回波之間的區(qū)域?yàn)樵u(píng)定區(qū)，第一個(gè)V型槽之前用水平線連接，這樣做最嚴(yán)格。,D.5 掃查方式D.5.1 在板材的軋制面上以垂直和平行于板材主要壓延方向的格子線進(jìn)行掃查，格子線中心距為200mm。D.5.2 當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷信號(hào)時(shí)，移動(dòng)探