材料分析測試技術(shù)a卷

1、第1頁共6頁一、選擇題（每題1分，共15分）1、X射線衍射方法中，最常用的是（）A勞厄法B.粉末多晶法C.轉(zhuǎn)晶法2、已知X射線定性分析中有三種索引，已知物質(zhì)名稱可以采用（）A.哈式無機(jī)相數(shù)值索引B.無機(jī)相字母索引C.芬克無機(jī)數(shù)值索引3、電子束與固體樣品相互作用產(chǎn)生的物理信號中能用于測試1nm厚度表層成分分析的信號是（）A.背散射電子B.俄歇電子C.特征X射線4、測定鋼中的奧氏體含量，若采用定量X射線物相分析，常用的方法是（）A.外標(biāo)法B

2、.內(nèi)標(biāo)法C.直接比較法D.K值法5、下列分析方法中分辨率最高的是（）A.SEMB.TEMC.特征X射線6、表面形貌分析的手段包括（）A.SEMB.TEMC.WDSD.DSC7、當(dāng)X射線將某物質(zhì)原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個L層電子打出核外，這整個過程將產(chǎn)生（）A.光電子B.二次電子C.俄歇電子D.背散射電子8、透射電鏡的兩種主要功能（）A.表面形貌和晶體結(jié)構(gòu)B.內(nèi)部組織和晶體結(jié)構(gòu)C.表面形貌和成分價鍵D.內(nèi)部

3、組織和成分價鍵9、已知X射線光管是銅靶，應(yīng)選擇的濾波片材料是（）A.CoB.NiC.FeD.Zn10、采用復(fù)型技術(shù)測得材料表面組織結(jié)構(gòu)的式樣為（）A.非晶體樣品B.金屬樣品C.粉末樣品D.陶瓷樣品11、在電子探針分析方法中，把X射線譜儀固定在某一波長，使電子束在樣品表面掃描得到樣品的形貌相和元素的成分分布像，這種分析方法是（）第3頁共6頁4、衍射襯度四、簡答題（每題5分，共20分）1、闡述特征X射線產(chǎn)生的物理機(jī)制2、給出物相定性與定量分

4、析的基本原理3、簡述掃描電鏡的結(jié)構(gòu)。4、簡述熱重分析應(yīng)注意的問題五、論述題（共25分）1、從原理及應(yīng)用方面指出X射線衍射、透射電鏡中的電子衍射在材料結(jié)構(gòu)分析中的異同點。2、以體心立方（001）(011)的衍射為例，說明產(chǎn)生衍射的充分必要條件一、選擇題（每空1分，共15分）15、BBBCB610、ACBCA1115、CDCCB二、填空題（每空1分，共20分）1、連續(xù)X射線和特征X射線。2、多晶電子衍射譜、多次衍射譜、菊池線。3、光學(xué)系統(tǒng)、