材料分析方法課后答案

1、1第一章第一章一、選擇題1.用來進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析的X射線學(xué)分支是（）A.X射線透射學(xué)；B.X射線衍射學(xué)；C.X射線光譜學(xué)；D.其它2.M層電子回遷到K層后，多余的能量放出的特征X射線稱（）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。3.當(dāng)X射線發(fā)生裝置是Cu靶，濾波片應(yīng)選（）ACu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。4.當(dāng)電子把所有能量都轉(zhuǎn)換為X射線時(shí)，該X射線波長稱（）A.短波限λ0；B.激發(fā)限λk；C.吸收限；D.特征X射線5.當(dāng)X射線將某

2、物質(zhì)原子的K層電子打出去后，L層電子回遷K層，多余能量將另一個(gè)L層電子打出核外，這整個(gè)過程將產(chǎn)生（）（多選題）A.光電子；B.二次熒光；C.俄歇電子；D.（AC）二、正誤題1.隨X射線管的電壓升高，λ0和λk都隨之減小。（）2.激發(fā)限與吸收限是一回事，只是從不同角度看問題。（）3.經(jīng)濾波后的X射線是相對的單色光。（）4.產(chǎn)生特征X射線的前提是原子內(nèi)層電子被打出核外，原子處于激發(fā)狀態(tài)。（）5.選擇濾波片只要根據(jù)吸收曲線選擇材料，而不需要考

3、慮厚度。（）第二章第二章一、選擇題1.有一倒易矢量為，與它對應(yīng)的正空間晶面是（）。???????cbag22A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。2.有一體心立方晶體的晶格常數(shù)是0.286nm，用鐵靶Kα（λKα=0.194nm）照射該晶體能產(chǎn)生（）衍射線。A.三條；B.四條；C.五條；D.六條。3.一束X射線照射到晶體上能否產(chǎn)生衍射取決于（）。A是否滿足布拉格條件；B是否衍射強(qiáng)度I≠0；CAB；D晶體形狀。

4、4.面心立方晶體（111）晶面族的多重性因素是（）。A4；B8；C6；D12。二、正誤題1.倒易矢量能唯一地代表對應(yīng)的正空間晶面。（）2.X射線衍射與光的反射一樣，只要滿足入射角等于反射角就行。（）3.干涉晶面與實(shí)際晶面的區(qū)別在于：干涉晶面是虛擬的，指數(shù)間存在公約數(shù)n。（）4.布拉格方程只涉及X射線衍射方向，不能反映衍射強(qiáng)度。（）5.結(jié)構(gòu)因子F與形狀因子G都是晶體結(jié)構(gòu)對衍射強(qiáng)度的影響因素。（）3六、正誤題1.要精確測量點(diǎn)陣常數(shù)。必須首先

5、盡量減少系統(tǒng)誤差，其次選高角度θ角，最后還要用直線外推法或柯亨法進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。（）2.X射線衍射之所以可以進(jìn)行物相定性分析，是因?yàn)闆]有兩種物相的衍射花樣是完全相同的。（）3.理論上X射線物相定性分析可以告訴我們被測材料中有哪些物相，而定量分析可以告訴我們這些物相的含量有多少。（）4.只要材料中有應(yīng)力就可以用X射線來檢測。（）5.衍射儀和應(yīng)力儀是相同的，結(jié)構(gòu)上沒有區(qū)別。（）第五章第五章七、選擇題1.若H800電鏡的最高分辨率是0.5nm，

6、那么這臺(tái)電鏡的有效放大倍數(shù)是（）。A.1000；B.10000；C.40000；D.600000。2.可以消除的像差是（）。A.球差；B.像散；C.色差；D.AB。3.可以提高TEM的襯度的光欄是（）。A.第二聚光鏡光欄；B.物鏡光欄；C.選區(qū)光欄；D.其它光欄。4.電子衍射成像時(shí)是將（）。A.中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合；B.中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合；C.關(guān)閉中間鏡；D.關(guān)閉物鏡。5.選區(qū)光欄在TEM鏡筒中的位置是（）

7、。A.物鏡的物平面；B.物鏡的像平面C.物鏡的背焦面；D.物鏡的前焦面。八、正誤題1.TEM的分辨率既受衍射效應(yīng)影響，也受透鏡的像差影響。（）2.孔徑半角α是影響分辨率的重要因素，TEM中的α角越小越好。（）3.有效放大倍數(shù)與儀器可以達(dá)到的放大倍數(shù)不同，前者取決于儀器分辨率和人眼分辨率，后者僅僅是儀器的制造水平。（）4.TEM中主要是電磁透鏡，由于電磁透鏡不存在凹透鏡，所以不能象光學(xué)顯微鏡那樣通過凹凸鏡的組合設(shè)計(jì)來減小或消除像差，故TE