互換性與技術測量綜合復習題

1、互換性與技術測量綜合復習題互換性與技術測量綜合復習題第一章緒論第一章緒論1下面數(shù)據(jù)屬于哪種系列？公比q為多少？（1）電動機轉(zhuǎn)速有（單位為r／min）：375，750，1500，3000…。（2）搖臂鉆床的主參數(shù)：25，40，80，100，125等（單位為mm）。（3）自6級開始各等級尺寸公差的計算公式為10i16i40i64i100i160i（4）自3級開始螺紋公差的等級系數(shù)為0.500.630.801.001.251.602.00第二

2、章幾何量測量的技術基礎第二章幾何量測量的技術基礎一、判斷題判斷題（正確的打√，錯誤的打）1、直接測量必為絕對測量。()2、為減少測量誤差，一般不采用間接測量。()3、為提高測量的準確性，應盡量選用高等級量塊作為基準進行測量。()4、使用的量塊數(shù)越多，組合出的尺寸越準確。()5、用多次測量的算術平均值表示測量結(jié)果，可以減少示值誤差數(shù)值。()6、測量過程中產(chǎn)生隨機誤差的原因可以一一找出，而系統(tǒng)誤差是測量過程中所不能避免的。()7、選擇較大的

3、測量力，有利于提高測量的精確度和靈敏度。()8、對一被測值進行大量重復測量時其產(chǎn)生的隨機誤差服從正態(tài)分布規(guī)律。()二、選擇題二、選擇題（將下面題目中所有正確的論述選擇出來）1、下列測量中屬于間接測量的有_____________A、用千分尺測外徑。B、用光學比較儀測外徑。C、用內(nèi)徑百分表測內(nèi)徑。D、用游標卡尺測量兩孔中心距。2、下列測量中屬于相對測量的有__________A、用千分尺測外徑。B、用光學比較儀測外徑。C、用內(nèi)徑百分表測內(nèi)

4、徑。D、用內(nèi)徑千分尺測量內(nèi)徑。3、下列論述中正確的有_________A、指示表的度盤與指針轉(zhuǎn)軸間不同軸所產(chǎn)生的誤差屬于隨機誤差。B、測量力大小不一致引起的誤差，屬隨機誤差。C、測量被測工件的長度時，環(huán)境溫度按一定規(guī)律變化而產(chǎn)生的測量誤差屬于系統(tǒng)誤差。D、測量器具零位不對準時，其測量誤差屬于系統(tǒng)誤差。4、下列因素中可能引起系統(tǒng)誤差的有_____________A、游標卡尺測軸徑時所產(chǎn)生的阿貝誤差。B、光學比較儀的示值誤差。C、測量過程中

5、環(huán)境溫度的隨時波動。D、千分尺測微螺桿的螺距誤差。5、列論述中正確的有________________Ａ、量塊即為長度基準。Ｂ、可以用量塊作為長度尺寸傳遞的載體。01420.015。試求測量結(jié)果。5、用83塊套的量塊組成尺寸為59.98mm。第三章孔、軸的極限與配合第三章孔、軸的極限與配合一判斷題（正確的打√，錯誤的打）1裝配精度高的配合，若為過渡配合，其值應減??；若為間隙配合，其值應增大。（）2圖樣標注φ300.0330mm的孔，可以

6、判斷該孔為基孔制的基準孔。（）3過渡配合可能具有間隙，也可能具有過盈，因此，過渡配合可能是間隙配合，也可能是過盈配合。（）4配合公差的數(shù)值愈小，則相互配合的孔、軸的公差等級愈高。（）5孔、軸配合為φ40H9／n9，可以判斷是過渡配合。（）6配合H7g6比H7s6要緊。（）7孔、軸公差帶的相對位置反映加工的難易程度。（）8最小間隙為零的配合與最小過盈等于零的配合，二者實質(zhì)相同。（）9基軸制過渡配合的孔，其下偏差必小于零。（）10從制造角度

7、講，基孔制的特點就是先加工孔，基軸制的特點就是先加工軸。（）11工作時孔溫高于軸溫，設計時配合的過盈量應加大。（）12基本偏差a～h與基準孔構(gòu)成間隙配合，其中h配合最松。（）13有相對運動的配合應選用間隙配合，無相對運動的配合均選用過盈配合。（）14配合公差的大小，等于相配合的孔軸公差之和。（）二選擇題（將下列題目中所有正確的論述選擇出來）1以下各組配合中，配合性質(zhì)相同的有＿＿。Aφ30H7／f6和φ30H8／p7Bφ30P8／h7和φ

8、30H8／p7Cφ30M8／h7和φ30H8／m7Dφ30H8／m7和φ30H7／f62下列配合代號標注正確的有＿＿。Aφ60H7r6Bφ60H8／k7Cφ60h7／D8Dφ60H9／f93下列孔軸配合中選用不當?shù)挠校撸?。AH8／u8BH6／g5CG6／h7DH5／a54決定配合公差帶大小和位置的有＿＿。A標準公差B基本偏差C配合公差D孔軸公差之和5下列配合中，配合公差最小的是＿＿。Aφ30H7／g6Bφ30H8／g7Cφ30H7／u6