利用掃描開爾文探針顯微鏡觀察薄膜光電器件能級排布_第1頁
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文檔簡介

1、利用掃描開爾文探針顯微鏡觀察薄膜光電器件能級排布,劉繼翀,唐峰,葉楓葉,陳琪,陳立桅,1 中國科學院蘇州納米技術與納米仿生研究所國際實驗室,中國科學院納米科學卓越中心,江蘇蘇州215123 2 中國科學院大學,北京100049 3 中國科學技術大學化學系,合肥230026,掃描開爾文探針顯微鏡測量PMMA : PCBM混合界面層 34,物理化學學報,2017,33(10),1934-1943.DOI:10.3866/PKU.WHXB2

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