地球物理勘探電法復(fù)習(xí)題

1、11簡(jiǎn)要敘述電法勘探的定義及物性前提。定義：根據(jù)地殼中不同巖層之間，巖礦石之間存在的電磁性質(zhì)差異，通過(guò)觀測(cè)天然存在的或由人工建立的電場(chǎng)，電磁場(chǎng)分布，來(lái)研究地質(zhì)構(gòu)造，尋找有用礦產(chǎn)資源，解決工程，環(huán)境，災(zāi)害等地質(zhì)問(wèn)題的一類(lèi)地球物理勘探方法。物性前提：勘探目標(biāo)巖層或巖礦石之間存在電磁性質(zhì)差異。2，什么是直流電阻率法，它的物性前提是什么？以介質(zhì)的導(dǎo)電性差異為物質(zhì)基礎(chǔ)，通過(guò)觀測(cè)和研究地下人工穩(wěn)定電流場(chǎng)的空間分布規(guī)律，達(dá)到勘查目的的一組電法勘探方法

2、。物性前提：勘查目標(biāo)物與圍巖存在著電阻率（或電導(dǎo)）差異。3，簡(jiǎn)要概述巖礦石電阻率變化規(guī)律。礦物：金屬礦電阻率比造巖類(lèi)礦物偏低，而每一種礦物變化范圍很大。巖石：沉積巖電阻率較低:10——10ΩM，火成巖與變質(zhì)巖較高：10—10ΩM。05254，影響巖礦石電阻率的主要因素有哪些？（1）成分和結(jié)構(gòu):膠結(jié)物，礦物顆粒的電阻率，礦物顆粒形狀和相對(duì)含量和膠結(jié)物連通形式。（2）含水量和孔隙度：含水量越高，電阻率越低。（3）溫度：一般溫度升高，電阻率降

3、低。5，什么是地層的縱向電導(dǎo)和橫向電阻？縱向電導(dǎo)：Si=hiPi橫向電阻：Ti=hiPi6，寫(xiě)出各向異性系數(shù)及平均電阻率的表達(dá)式。各向異性系數(shù)：平均電阻率：tn????tnm????Pn為垂直于層理方向的電阻率；Pt為沿層理方向的電阻率7，常用的巖礦石電阻率測(cè)定方式有哪幾種？標(biāo)本測(cè)定：巖性均一，形狀規(guī)則。露頭測(cè)定：露頭巖石表面視為電性均勻，各向同性的下半無(wú)限大空間平面。鉆孔測(cè)定：孔內(nèi)待測(cè)巖礦石分布范圍相對(duì)測(cè)量極系分布尺度視為無(wú)窮大全空間

4、均勻、各向同性的介質(zhì)8，視電阻率如何定義的，決定視電阻率的主要因素有哪些？在實(shí)際地形和地下介質(zhì)的分布并不能滿(mǎn)足條件：下半空間巖、礦石均勻各向同性，地表水平的情況下測(cè)得的電阻率。主要因素：①地電空間分布、或地電斷面分布；②觀測(cè)位置；③地形條件：水平，正地形，負(fù)地形；④電極裝置類(lèi)型（K）：電極間的排列形式和極距大小。9，用視電阻率的微分形式分別解釋均勻場(chǎng)中地下高阻和低阻球體的電流密度分布規(guī)律。視電阻率微分形式：Ps=Pmnjjmn0在左邊均

5、勻地段jmn=j0，所以Ps=P1.在高阻體頂上，由于它向外排斥電流，使得測(cè)量電極M，N間的電流密度jmnj0，故PsP1在高阻體兩側(cè)，雖然Pmn=P1，但由于jmn，右邊交點(diǎn)處的視電阻率值，把這種交點(diǎn)稱(chēng)正交點(diǎn)。反交點(diǎn)反之。正交點(diǎn)反映地下為低1pps?阻體，而反交點(diǎn)反映地下為高阻體。21，聯(lián)合剖面法尋找哪類(lèi)礦體比較有利，為什么？對(duì)于勘查直立低阻體較為有效，呈現(xiàn)低阻正交點(diǎn)，且異常幅值比高阻體異常幅值要大得多曲線與曲線有明顯異常。As?Bs