基于msp430單片機的測壓系統(tǒng)設(shè)計

1、第1頁共50頁基于MSP430單片機的測壓系統(tǒng)設(shè)計摘要實現(xiàn)動態(tài)參數(shù)存儲測試的技術(shù)關(guān)鍵在于研制能夠在被測環(huán)境內(nèi)正常工作的對被測對象工作無影響或影響在允許范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)采集與存儲測試系統(tǒng)單片機比其它用于存儲測試的芯片具有程序燒寫容易、參數(shù)容易改變的特點。本課題主要研究用MSP430系列單片機實現(xiàn)一個小體積、低功耗的存儲測試裝置，詳細的介紹了由于無需外加ADC以及外部的數(shù)據(jù)存儲器，可使本測試系統(tǒng)中的數(shù)字部分達到很小的體積，最終使該裝置能適用于壓

2、力的測試。關(guān)鍵字：MSP430F1612存儲測試測壓系統(tǒng)第3頁共50頁(3)長時間信息保持單元；(4)與計算機交換信息的接口電路；(5)保持電路系統(tǒng)正常工作的環(huán)境保護器；(6)方便回收的位置指示器。存儲測試系統(tǒng)的主要特點是：獨立自動地完成動態(tài)數(shù)據(jù)采集與存儲記憶，特別是能在多種惡劣環(huán)境和緊湊設(shè)計條件下完成動態(tài)參數(shù)測試，在軍用民用兩大領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。目前存儲測試技術(shù)已經(jīng)在許多重大武器型號的研究，研制，生產(chǎn)，驗收和使用中得到成功的應(yīng)用

3、，取得了一系列重要科研成果。此外，存儲測試技術(shù)還在航空，航天，機械，電子等多個領(lǐng)域中得到應(yīng)用[34]，解決了許多過去無法解決的重大測試難題，顯示出突出的優(yōu)越性。存儲測試系統(tǒng)原理框圖如下頁圖1.1所示：RSTRST移位寄存器③RSTRSTTRIGINTTRIGEXTTRI傳感器適配電路濾波器及多路轉(zhuǎn)換器①比較器及觸發(fā)電路⑧延遲計數(shù)器⑨存儲器WE④OE時基及控制電路高位地址發(fā)生器⑥SH及ADC②WR多重地址鎖存器⑦低位地址發(fā)生器⑤接口電路圖