2019福建工程學(xué)院考研《材料分析方法》考試大綱

1、2019年碩士研究生入學(xué)考試大綱年碩士研究生入學(xué)考試大綱考試科目名稱：材料分析方法考試科目代碼：一、考試要求：要求學(xué)生系統(tǒng)掌握材料分析方法的基本原理和主要方法，重點(diǎn)是掌握材料X射線衍射、電子衍射和電子顯微分析的基本原理和方法，具備一定的利用X射線衍射和電子衍射等手段進(jìn)行材料顯微組織結(jié)構(gòu)分析的相關(guān)知識和技能，為材料設(shè)計、制備、加工以及材料組織結(jié)構(gòu)優(yōu)化和使用性能改善提供科學(xué)依據(jù)。二、考試內(nèi)容：1X射線物理學(xué)基礎(chǔ)X射線的發(fā)現(xiàn)及其本質(zhì)；連續(xù)X射

2、線與特征X射線；X射線與物質(zhì)的相互作用：線吸收、體吸收、真吸收、濾波、光電效應(yīng)、熒光輻射、俄歇效應(yīng)；相干散射。2X射線衍射方向晶體學(xué)基礎(chǔ)：空間點(diǎn)陣，7種晶系，14種布喇菲點(diǎn)陣，基元，晶體結(jié)構(gòu)，晶面，晶向，晶面間距，晶面夾角；布喇格公式的推導(dǎo)；布喇格公式的物理意義：反射級數(shù)，干涉面，衍射方向，衍射條件；布喇格公式的應(yīng)用。3X射線衍射強(qiáng)度倒易點(diǎn)陣原理，倒易點(diǎn)陣的物理意義，倒易點(diǎn)陣、衍射斑點(diǎn)及晶體結(jié)構(gòu)三者之間的關(guān)系，由正點(diǎn)陣構(gòu)建倒易點(diǎn)陣；衍射

3、矢量方程，厄瓦爾德圖解法，系統(tǒng)消光，結(jié)構(gòu)因子因子物理意義；結(jié)構(gòu)因子的應(yīng)用，X射線衍射強(qiáng)度公式詮釋。4X射線衍射多晶體分析方法單晶和多晶材料X射線衍射花樣基本特征及其形成原因；德拜謝樂照相法基本原理；用德拜謝樂法分析多晶體結(jié)構(gòu)；X射線衍射儀的結(jié)構(gòu)、工作原理和主要特點(diǎn)。5X射線衍射物相分析X射線物相分析的定義；X射線物相定性分析原理和方法；X射線物相定量分析原理和方法；單線條法和內(nèi)標(biāo)法物相定量分析方法。6X射線衍射點(diǎn)陣參數(shù)精確測定及宏觀參與

4、應(yīng)力測定精確測定點(diǎn)陣參數(shù)的基本原理；直線外推法測定點(diǎn)陣參數(shù)；最小二乘法測定點(diǎn)陣參數(shù)；殘余應(yīng)力的產(chǎn)生及分類；殘余應(yīng)力對材料性能的影響及其X射線衍射的特征；宏觀殘余應(yīng)力測定的基本原理；宏觀殘余應(yīng)力測定基本公式詮釋；宏觀殘余應(yīng)力測定方法。7電子衍射透射電子顯微鏡的工作原理及其兩種工作模式；電子衍射的幾何光學(xué)，電子衍射基本公式的推導(dǎo)，電子衍射基本公式的物理意義；選區(qū)電子衍射；實際透射電子顯微鏡中的電子衍射，相機(jī)常數(shù)和磁轉(zhuǎn)角，單晶電子衍射花樣的標(biāo)

5、定；電子衍射花樣的主要用途。8晶體薄膜衍襯成像衍襯成像原理；衍襯運(yùn)動學(xué)基本假設(shè)；等厚和等傾條紋的解釋；衍襯像的主要通途。9掃描電子顯微鏡和電子探針電子與物質(zhì)的相互作用；掃描電子顯微鏡結(jié)構(gòu)及工作原理，二次電子產(chǎn)額與表面形貌的關(guān)系，掃描電子顯微鏡的用途；電子探針的結(jié)構(gòu)與工作原理，電子探針的用途。10其它材料分析方法其它顯微分析方法：原子力顯微鏡、場離子顯微鏡、三維原子探針和電子背散射衍射的基本原理及主要用途；各種譜分析方法：紅外、拉曼、紫外