gbt 25479-2010 工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)用無紙記錄儀

1、ICS1722020N14a雪中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB／T25479—2010工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)用無紙記錄儀Paperlessrecorderforuseinindustrial—processme嬲urementandcontrolsystems2010一12—01發(fā)布201105—01實(shí)施宰瞀髁鬻瓣警糌瞥簍發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)促111www.bzfxw.com工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)用無紙記錄儀GB／T25479～201

2、01范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了無紙記錄儀(以下簡(jiǎn)稱記錄儀)的產(chǎn)品分類和基本參數(shù)、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)用的無紙記錄儀。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于

3、本標(biāo)準(zhǔn)。GB／T47931—2007測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求第1部分：通用要求(IEC61010：2001，IDT)GB／T13384機(jī)電產(chǎn)品包裝通用技術(shù)條件GB／T176262電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)(GB／T176262—2006，IEC61000—4—2：2001，IDT)GB／T176263電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)(GB／T176263—2006，IEC61000一4—3：20

4、02，IDT)GB／T176264電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)(GB／T176264～2008，IEC61000—4—4：2004，IDT)GB／T176265電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)(GB／T176265—2008，IEC61000—4—5：2005，mT)GB／T176266電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度(GB／T176266—2008，IEC61000—4—6：2006，I

5、DT)GB／T1762611電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度試驗(yàn)(GB／T1762611—2008，IEC61000—4—11：2004，IDT)GB／T182681測(cè)量、控制和實(shí)驗(yàn)室用的電設(shè)備電磁兼容性要求第1部分：通用要求(GB／T182681—2000，IEC61326—1：2005，IDT)GB／T182711—2000過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序第1部分：總則(IEC61298—1：1995

6、，IDT)GB／T1827122000過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序第2部分：參比條件下的試驗(yàn)(IEC61298—2：1995，IDT)GB／T182713—2000過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序第3部分：影響量影響的試驗(yàn)(IEC61298—3：1998，IDT)GB／T22162盤裝和架裝工業(yè)過程測(cè)量和控制儀表的盤面和開孔尺寸(GB／T22162—2008，IEC60668：1980，IDT)GB／T25480儀器