基于主元分析和偏最小二乘的TE過程監(jiān)測方法的研究.pdf

1、由于生產(chǎn)力的需要，現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)工藝日益復雜，生產(chǎn)規(guī)模不斷擴大，生產(chǎn)系統(tǒng)智能化程度不斷加深。先進的過程監(jiān)控系統(tǒng)對生產(chǎn)效率的提高及系統(tǒng)安全可靠性起到重要的保障作用。然而系統(tǒng)非線性、樣本容量過小、復雜故障的辨識等是目前過程監(jiān)控方法研究上存在的主要問題。本文以多元統(tǒng)計分析方法為核心對流程工業(yè)的過程監(jiān)控開展了研究：
　　本文分析了過程監(jiān)控技術的起源與發(fā)展過程，并引入了過程監(jiān)控方法的分類，提出了現(xiàn)今過程監(jiān)控方法上所存在的問題。對主元分析(PC

2、A)和偏最小二乘(PLS)方法進行了理論推導分析，研究了基于主元分析和偏最小二乘法故障檢測的具體實現(xiàn)過程。將兩種方法的檢測結果對比，得出偏最小二乘方法優(yōu)于主元分析法的結論。
　　針對系統(tǒng)的非線性問題，引入核函數(shù)方法，生成可以解決非線性問題的核主元分析(KPCA)與核偏最小二乘(KPLS)法，并研究了兩種方法故障檢測的具體實現(xiàn)過程。將其診斷結果與未加核函數(shù)處理的方法進行對比，得出核函數(shù)可解決系統(tǒng)非線性問題的結論。本文研究了田納西-伊