基于PXIe儀器的GB-T 22351標(biāo)準(zhǔn)RFID一致性測(cè)試技術(shù)的研究和實(shí)現(xiàn).pdf

1、隨著物聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，射頻識(shí)別技術(shù)已經(jīng)大量應(yīng)用于現(xiàn)實(shí)生活中。目前RFID各項(xiàng)單項(xiàng)技術(shù)已經(jīng)有了相當(dāng)成熟的發(fā)展，但是在實(shí)際推廣中依然存在很多技術(shù)問題。為了解決這些技術(shù)問題，需要研制出相應(yīng)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)RFID系統(tǒng)的各個(gè)部分進(jìn)行協(xié)調(diào)和測(cè)試驗(yàn)證。這樣不僅減少了RFID測(cè)試中所需的人力和資源，也能夠更好地發(fā)現(xiàn)存在的缺陷并且完善RFID實(shí)際應(yīng)用，因此這是本文研究存在的現(xiàn)實(shí)意義。
　　本文的研究方向主要針對(duì)GB/T22351協(xié)議的一致性和性能

2、測(cè)試，其研究環(huán)境是在美國國家儀器公司的PXIe儀器平臺(tái)上搭建的基于該協(xié)議的RFID自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。本文的主要工作如下:
　　對(duì)工作在13.56MHz的RFID系統(tǒng)的進(jìn)行了理論研究。首先從數(shù)學(xué)推導(dǎo)的角度給出RFID系統(tǒng)中讀寫器和標(biāo)簽常用的2-ASK信號(hào)的時(shí)域表達(dá)式和功率譜表達(dá)式，以及相應(yīng)的仿真結(jié)果。接著介紹了工作在13.56MHz的電子標(biāo)簽的工作原理，包括電感耦合的電路結(jié)構(gòu)和電感設(shè)計(jì)原理。最后給出了RFID測(cè)試技術(shù)的分類。這些背景理論

3、為后續(xù)章節(jié)的RFID原型機(jī)的設(shè)計(jì)以及測(cè)試技術(shù)的研究分析奠定了理論基礎(chǔ)。
　　對(duì)GB/T22351協(xié)議的物理層和數(shù)據(jù)鏈路層的詳細(xì)闡述。針對(duì)物理層，首先介紹了讀寫器到標(biāo)簽的前向鏈路的關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)，其中包括調(diào)制方式，脈沖形狀和數(shù)據(jù)速率及編碼。接著給出了標(biāo)簽到讀寫器的反向鏈路關(guān)鍵參數(shù)，其中同樣包括調(diào)制方式，數(shù)據(jù)速率和編碼，以及幀結(jié)構(gòu)。最后對(duì)數(shù)據(jù)鏈路層關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)進(jìn)行了研究，其內(nèi)容包括了標(biāo)簽的狀態(tài)轉(zhuǎn)移和發(fā)送命令的幀格式等。
　　在NI

4、的PXIe儀器平臺(tái)上，實(shí)現(xiàn)了基于GB/T22351的RFID原型機(jī)的研發(fā)。首先分別給出RFID測(cè)試系統(tǒng)的軟硬件架構(gòu)框圖，然后對(duì)儀器驅(qū)動(dòng)配置進(jìn)行詳細(xì)說明。接著敘述了基于LabVIEW FPGA協(xié)議棧的實(shí)現(xiàn)，內(nèi)容包括數(shù)據(jù)鏈路層，物理層發(fā)射機(jī)和接收機(jī)三個(gè)部分。最后給出了數(shù)據(jù)鏈路層的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。
　　在搭建好的RFID原型機(jī)上，往主機(jī)中添加測(cè)試模塊從而完成了整個(gè)RFID測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)上添加的主要的測(cè)試模塊包括協(xié)議一致性測(cè)試模塊，射頻參數(shù)