基于動態(tài)集合進化的弱變異測試用例集生成.pdf

1、軟件測試日漸重要，基于變異的測試用例生成技術(Mutation-based Test Case Generation，MTCG)得到了學術界的廣泛關注。變異測試是一種基于故障植入的軟件測試技術，使用變異算予對被測程序語句進行合乎語法的微小改動，生成變異體。MTCG技術旨在生成極少的測試用例殺死盡可能多的變異體，以獲得較高質量的測試用例集。然而，變異測試代價昂貴，無法應用于軟件實際測試中，因此，如何降低變異執(zhí)行開銷是MTCG技術的重點研究

2、內容之一。
　　基于集合進化的弱變異測試用例集生成是一種較好的測試用例集生成方法，它以測試用例集為個體，以所有變異分支為目標生成測試用例集，但也存在下面兩個問題:一是個體規(guī)模（即其包含的測試用例個數(shù)）在進化過程中是固定不變的，然而確定合適的個體規(guī)模較難。二是目前采用的適應度函數(shù)計算開銷大，且不適合于以集合為個體的進化搜索。
　　為此，本文提出了一種基于動態(tài)集合進化算法的弱變異測試用例集生成方法，通過增設集合精簡算子，使個體規(guī)

3、模在進化過程中根據(jù)執(zhí)行情況動態(tài)調整，避免了個體初始規(guī)模對于測試用例集生成的影響;同時設計了一個適用于集合個體進化的適應度函數(shù)，能夠對集合個體的優(yōu)劣進行更為準確的評估，其計算開銷較少，算法效率較高。此外，種群更新采?。é?，1+λ）更新策略，在父代中只保留最優(yōu)個體來保證種群更新質量。該方法在滿足弱變異測試準則的前提下，能夠生成較小規(guī)模的弱變異測試用例集，且生成時間大大降低。
　　將本文方法與基于集合進化的弱變異測試用例集生成方法在五組