表面活性劑對顯色體系的影響及鈦酸鋇中鋁的測定方法研究.pdf

1、鈦酸鹽類功能粉體材料具有原料來源廣、成本低、合成方法簡單、摻雜改性容易等優(yōu)點，是一系列高附加值，發(fā)展前景廣闊的精細化工產(chǎn)品。隨著電子工業(yè)的發(fā)展，特別是敏感元件的生產(chǎn)需要以及質(zhì)量管理體系的建立，對電子元器件原材料質(zhì)量可控性要求越來越高，鈦酸鹽類功能粉體原材料中雜質(zhì)含量的測定指標越來越向痕量甚至超痕量方向發(fā)展，因此，相應(yīng)簡便、可靠的分析方法的建立就成為人們關(guān)注的課題。
　　 目前痕量鋁的分析測定主要采用鉻天青S分光光度法，然而在測定

2、鈦酸鹽中雜質(zhì)鋁含量時，由于大量基體干擾，方法靈敏度大大降低，測定值很不可靠。用膠束增溶分光光度法可以較好的解決方法靈敏度低，選擇性差的問題。
　　 本文首先通過單因素實驗考察了不同類型表面活性劑對顯色體系的影響，并根據(jù)實驗結(jié)果設(shè)計單純形優(yōu)化實驗，得出四元顯色體系A(chǔ)l-CAS-CPC-OP的最佳測定條件，該法靈敏度高，Al含量在0～0.2mg/L范圍內(nèi)呈良好的線性關(guān)系。
　　 實驗就各種類型表面活性劑對顯色體系產(chǎn)生影響的機

3、理進行了初步的探索，根據(jù)Zeta界面電位的測定結(jié)果，得出非離子表面活性劑對體系增穩(wěn)作用的機理，是由于它的加入使原來帶負電的體系呈現(xiàn)電中性，因而使體系趨于穩(wěn)定。激光光散射的分析結(jié)果證實了顯色體系摩爾吸光系數(shù)ε與顯色質(zhì)子有效吸光截面積成正比。結(jié)合幾種儀器的測定結(jié)果，實驗發(fā)現(xiàn)，陽離子表面活性劑在濃度達到臨界膠束濃度前后，對顯色體系的增敏效果并不相同。其與Al-CAS絡(luò)陰離子之間，有兩種作用力存在，正是這兩種作用力共同影響了顯色體系，使之最大吸

4、收波長與摩爾吸光系數(shù)分別發(fā)生大幅度的增加。
　　 研究考察了陽離子表面活性劑結(jié)構(gòu)與增敏的關(guān)系，并總結(jié)了相關(guān)規(guī)律:在陽離子表面活性劑中，直鏈比支鏈增敏效果好；長鏈比短鏈增敏效果好；不同親水基團的增敏效果按以下順序由強到弱排列:吡啶基>芐基銨>三甲基銨。
　　 本論文在進行樣品測定時首先考察了一些掩蔽劑對基體鈦干擾的抑制作用，結(jié)果表明，苦杏仁酸抑制基體鈦干擾的效果相對較好。實驗將表面活性劑的增敏作用與苦杏仁酸的掩蔽作用同時應(yīng)