射頻噪聲抑制片評價方法及介電材料介電特性的同軸探頭法測量技術(shù)研究.pdf

1、射頻功能材料已經(jīng)廣泛應(yīng)用于航空航天、微波通信、隱身技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)、電磁兼容等各領(lǐng)域，在研發(fā)、生產(chǎn)和使用功能材料時都需要測試其電磁特性參數(shù)。本課題主要針對功能材料的電磁特性參數(shù)，包括耦合衰減(intra-decoupling)、傳輸衰減(inter-decoupling)、功率損耗(transmission attenuationpowerratio)和復(fù)介電常數(shù)的測試系統(tǒng)及其測試方法進(jìn)行研究。主要內(nèi)容有:
　　(1)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC

2、62333-2《數(shù)字裝置和設(shè)備的噪聲抑制片的測量方法》，測試噪聲抑制片在100MHz～6GHz內(nèi)的耦合衰減和傳輸衰減，以提供評價噪聲抑制性能的方法。首先借助電磁場數(shù)值仿真軟件CST建立收發(fā)環(huán)天線的仿真模型，仿真無噪聲抑制片時收、發(fā)天線間的傳輸特性S21以及在收發(fā)環(huán)天線上方3 mm和收發(fā)環(huán)天線正中間加噪聲抑制片后的傳輸特性S21;然后采用半剛性電纜制作環(huán)天線，利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試收、發(fā)環(huán)天線間的傳輸特性S21以及在兩種位置加噪聲抑制片后

3、的S21，將仿真結(jié)果與試驗結(jié)果進(jìn)行對比，研究結(jié)果表明兩種數(shù)值趨勢一致，則此裝置可以用于評價噪聲抑制片在100MHz～6GHz內(nèi)的噪聲抑制性能。
　　(2)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)IEC62333-2《數(shù)字裝置和設(shè)備的噪聲抑制片的測量方法》，測試噪聲抑制片在30MHz～10GHz內(nèi)的功率損耗，以提供評價噪聲抑制性能的方法，首先借助電磁場數(shù)值仿真軟件CST建立微帶線的仿真模型，仿真無/有噪聲抑制片時微帶線的回波損耗S11和傳輸特性S21;然后制作微帶

4、線模型，利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試無/有噪聲抑制片時微帶線的回波損耗S11和傳輸特性S21，將仿真結(jié)果和網(wǎng)絡(luò)分析儀測試結(jié)果進(jìn)行對比分析，研究結(jié)果表明兩種數(shù)值基本吻合，則此微帶線模型可以用于評價噪聲抑制片在30MHz～10GHz內(nèi)的噪聲抑制性能。
　　(3)采用開口同軸探頭法測量非磁性材料的復(fù)介電常數(shù)。首先通過電磁場方法對開口同軸探頭法進(jìn)行理論建模，建立復(fù)反射系數(shù)與復(fù)介電常數(shù)之間的函數(shù)關(guān)系，并求得受試材料反射系數(shù)的理論值;然后借助電磁場