基于ARM的頻率特性分析儀的設(shè)計(jì).pdf_第1頁
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文檔簡(jiǎn)介

1、掃頻儀也稱頻率特性測(cè)試儀(Frequency Response Analyzer),它主要用于測(cè)試系統(tǒng)的頻率特性,在現(xiàn)代電子測(cè)量中占有重要的位置。運(yùn)用正弦掃頻激勵(lì)信號(hào)對(duì)被測(cè)系統(tǒng)進(jìn)行快速的動(dòng)態(tài)測(cè)量,可以得到被測(cè)系統(tǒng)的頻率特性,該方法具有試驗(yàn)時(shí)間短,便于實(shí)現(xiàn)等優(yōu)點(diǎn)。
　　 本文將闡述基于高性能DDS芯片AD9850和專用的增益相位檢測(cè)芯片AD8302的頻率特性分析儀的設(shè)計(jì)。該儀器以DDS芯片AD9850為核心產(chǎn)生掃頻信號(hào),以增益相位

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