基于FPGA的頻率特性測(cè)試儀的研制.pdf

1、頻率特性測(cè)試儀(簡(jiǎn)稱掃頻儀)是一種測(cè)試電路頻率特性的儀器，它廣泛應(yīng)用于無(wú)線電、電視、雷達(dá)及通信等領(lǐng)域，為分析和改善電路的性能提供了便利的手段。而傳統(tǒng)的掃頻儀由多個(gè)模塊構(gòu)成，電路復(fù)雜，體積龐大，而且在高頻測(cè)量中，大量的分立元件易受溫度變化和電磁干擾的影響。為此，本文提出了集成化設(shè)計(jì)的方法，針對(duì)可編程邏輯器件的特點(diǎn)，對(duì)硬件實(shí)現(xiàn)方法進(jìn)行了探索。 本文對(duì)三大關(guān)鍵技術(shù)進(jìn)行了深入研究： 第一，由掃頻信號(hào)發(fā)生器的設(shè)計(jì)出發(fā)，對(duì)直接數(shù)字頻

2、率合成技術(shù)(DDS)進(jìn)行了系統(tǒng)的理論研究，并改進(jìn)了ROM壓縮方法，在提高壓縮比的同時(shí)，改進(jìn)了DDS系統(tǒng)的雜散度，并且利用該方法實(shí)現(xiàn)了幅度和相位可調(diào)制的DDS系統(tǒng)-掃頻信號(hào)發(fā)生器。 第二，為了提高系統(tǒng)時(shí)鐘的工作頻率，對(duì)流水線算法進(jìn)行了深入的研究，并針對(duì)累加器的特點(diǎn)，進(jìn)行了一系列的改進(jìn)，使系統(tǒng)能在100MHz的頻率下正常工作。 第三，從系統(tǒng)頻率特性測(cè)試的理論出發(fā)，研究如何在FPGA中提高多位數(shù)學(xué)運(yùn)算的速度，從而提出了一種實(shí)現(xiàn)

3、多位BCD碼除法運(yùn)算的方法—高速串行BCD碼除法；隨后，又將流水線技術(shù)應(yīng)用于該算法，對(duì)該方法進(jìn)行改進(jìn)，完成了基于流水線技術(shù)的BCD碼除法運(yùn)算的設(shè)計(jì)，并用此方法實(shí)現(xiàn)了頻率特性的測(cè)試。 在研究以上理論方法的基礎(chǔ)上，以大規(guī)?？删幊踢壿嬈骷﨓P1K100QC208和微處理器89C52為實(shí)現(xiàn)載體，提出了基于單片機(jī)和FPGA體系結(jié)構(gòu)的集成化設(shè)計(jì)方案；以VerilogHDL為設(shè)計(jì)語(yǔ)言，實(shí)現(xiàn)了頻率特性測(cè)試儀主要部分的設(shè)計(jì)。該頻率特性測(cè)試儀完成掃