8位單片機(jī)的測試與分析.pdf

1、隨著工業(yè)控制領(lǐng)域?qū)呻娐沸阅芤蟮牟粩嗵岣吆拖M(fèi)電子產(chǎn)品的快速發(fā)展，單片機(jī)技術(shù)獲得了巨大的發(fā)展。傳統(tǒng)的8位單片機(jī)的性能較之以往有了很大的提升，其憑借著顯著的性價(jià)比，在儀器儀表、工業(yè)控制、實(shí)用家電等低端應(yīng)用領(lǐng)域依舊占據(jù)主流地位。然而，集成電路芯片功能的日益增強(qiáng)、集成電路生產(chǎn)制造成本的逐步降低以及對測試故障覆蓋率更嚴(yán)苛的要求，使得集成電路的測試變得越來越困難。傳統(tǒng)的功能測試需要人工編寫測試矢量，加之故障覆蓋率較低，已逐漸不能適應(yīng)當(dāng)今芯片測

2、試的要求。而可測性設(shè)計(jì)(DFT)測試法正是為了適應(yīng)這種需求而產(chǎn)生的。DFT測試法通過在芯片中增加額外的邏輯來實(shí)現(xiàn)對電路的可控性和可觀測性，對于提高故障覆蓋率，降低測試成本有著顯著的作用。
　　本文首先詳細(xì)介紹和分析了DFT測試的原理及主要方法，然后針對8位單片機(jī)(MCU)芯片SH79FXX的DFT測試進(jìn)行分析，根據(jù)芯片特點(diǎn)，重點(diǎn)分析了測試向量的壓縮方案和引腳復(fù)用方案。最后通過仿真分析得出芯片的故障覆蓋率達(dá)到95.0％，存儲器故障覆