激光沖擊對銅薄膜電學性能的影響及其沖擊效應仿真研究.pdf_第1頁
已閱讀1頁,還剩70頁未讀, 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內容提供方,若內容存在侵權,請進行舉報或認領

文檔簡介

1、集成電路產(chǎn)業(yè)是微電子產(chǎn)業(yè)的基礎,在經(jīng)濟發(fā)展中起到重要作用。然而,在超大集成電路的設計制造中,隨著集成度的增進和線寬的減少,電路連線材料強度提高及其電阻率的有效降低成為研究熱點問題之一。激光沖擊處理技術是一種新型的表面處理技術,具有能使材料產(chǎn)生形變、相變和位錯等組織變化從而改善其性能的獨特優(yōu)勢。本文基于小能量激光沖擊處理工藝,從實驗和仿真兩個方面對激光沖擊后納米銅薄膜的電學性能變化以及沖擊效應進行了研究。主要取得了如下成果:
 ?。?/p>

2、1)對納米銅薄膜的制備工藝進行了研究。通過改變襯底溫度分別在硅片(Si)和聚酰亞胺(PI)上鍍膜,比較分析了其表面形貌、組織結構以及電學性能。結果表明:在工作氣壓0.5Pa、濺射功率100w、襯底溫度150℃條件下兩種基體上制備的薄膜表面平整、晶粒大小均勻、缺陷相對于其他溫度較少;同時測得此條件下制備態(tài)Cu/Si薄膜電阻率為1.4×10-8Ω.m,Cu/PI薄膜電阻率為2.3×10-8Ω.m。
 ?。?)開展了激光微沖擊納米銅薄膜

3、的實驗研究。基于一維應變波理論對沖擊作用下材料內部應力波傳播的基本過程進行了分析。結合SEM、XRD、TEM等方法對沖擊后薄膜進行分析發(fā)現(xiàn):激光沖擊處理后薄膜的表面粗糙度降低,晶粒出現(xiàn)了“長大”的現(xiàn)象,且內部有孿晶結構生成。電學性能測試表明:Cu/Si薄膜電阻率最大降低為原來的87.2%,Cu/PI薄膜電阻率最大降低為原來的89.4%。
 ?。?)開展了激光沖擊納米銅薄膜效應的模擬研究。運用應力波理論進行模擬分析了激光沖擊作用下薄

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內容里面會有圖紙預覽,若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間,僅對用戶上傳內容的表現(xiàn)方式做保護處理,對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論