基于面陣CCD的顆粒物料缺陷檢測(cè)系統(tǒng).pdf

1、表面缺陪是影響產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素之一，隨著科技的飛速發(fā)展，人們對(duì)材料質(zhì)量的要求也越來越高，因此各行各業(yè)都對(duì)檢測(cè)技術(shù)提出了新的要求。圖像檢測(cè)技術(shù)的出現(xiàn)為材料的缺陷檢測(cè)提供了一個(gè)很好的手段。在目前的多種檢測(cè)手段當(dāng)中，由于CCD器件自身所具有的輕便、高精度等優(yōu)點(diǎn)，特別是隨著CCD器件掃描速度的提高，使得基于CCD成像的檢測(cè)方法成為當(dāng)前研究工作的主流。
　　 本文以電纜料顆粒為被檢測(cè)對(duì)象。電纜絕緣中的雜質(zhì)顆粒是導(dǎo)致電纜絕緣早期被破壞的重

2、要原因，它限制了電纜使用的可靠性和壽命，也限制了電纜行業(yè)向更高電壓等級(jí)的發(fā)展。電纜絕緣中雜質(zhì)顆粒的尺寸和含量成了評(píng)定電纜性能的重要參數(shù)，因此如何方便、實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確地檢測(cè)雜質(zhì)顆粒的尺寸和數(shù)目，成為人們關(guān)注的技術(shù)問題。
　　 基于以上分析，本文主要是將圖像檢測(cè)技術(shù)在電纜料顆粒的缺陷檢測(cè)方面進(jìn)行應(yīng)用探索。按照項(xiàng)目要求，本系統(tǒng)以面陣CCD作為基礎(chǔ)器件，設(shè)計(jì)完成了適合該檢測(cè)的光電檢測(cè)模塊，搭建了有效可行的數(shù)據(jù)采集傳輸體系，為后續(xù)的數(shù)據(jù)處理分

3、析提供了良好的平臺(tái)。圖像采集系統(tǒng)通過IEEE1394工業(yè)用總線實(shí)現(xiàn)與計(jì)算機(jī)的接口，在上位機(jī)系統(tǒng)中采用面向?qū)ο?、模塊化編程等技術(shù)完成上層軟件的開發(fā)，并針對(duì)檢測(cè)對(duì)象所具有的特征研究了合適的算法，完成后續(xù)圖像處理，系統(tǒng)軟件給出缺陷檢測(cè)結(jié)果以及一些必要的統(tǒng)計(jì)。面陣CCD成像的高性能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)母咚俾?，以及上層軟件采用的面向?qū)ο?、模塊化編程技術(shù)，保證了系統(tǒng)在硬件和軟件上的可擴(kuò)展性，使該系統(tǒng)可以很好的滿足電纜料顆粒雜質(zhì)的在線實(shí)時(shí)檢測(cè)要求。