基于USB的LVDS信號(hào)傳輸誤碼率測(cè)試系統(tǒng).pdf_第1頁(yè)
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1、BESIII是是運(yùn)行在北京正負(fù)電子對(duì)撞機(jī)(BEPC)上的一臺(tái)大型通用磁譜儀北京譜儀(BES)的第三期工程.它的主漂移室動(dòng)量分辨率為O.8％@1GeV&1T,0.67%@1GeV&1.2T,dE/dx分辨率達(dá)7%,立體角達(dá)O.93.電磁量能器使用CsI晶體,△E/E~2.5%@1GeV,立體角達(dá)0.83.飛行時(shí)間探測(cè)器時(shí)間分辨率達(dá)到65 ps,π/K分辨達(dá)到1.1GeV.BESIII將使用超導(dǎo)磁鐵,磁場(chǎng)達(dá)1~1.2Tesla;在線事例率達(dá)

2、到約4000Hz.BESIII的μ子鑒別器(MC)讀出電子學(xué)系統(tǒng)數(shù)據(jù)將并行掃描10,240個(gè)數(shù)據(jù),可以滿足阻性板探測(cè)器9088個(gè)電子學(xué)通道數(shù)據(jù)獲取的要求.BESIII的MC讀出電子學(xué)系統(tǒng)中將采用LVDS信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸,而LVDS信號(hào)傳輸能不能達(dá)到MC的讀出電子學(xué)系統(tǒng)的要求,并沒(méi)有經(jīng)過(guò)實(shí)際測(cè)試檢驗(yàn).所以,我們需要一個(gè)測(cè)試系統(tǒng)用來(lái)檢驗(yàn)LVDS信號(hào)的誤碼率.USB2.O總線的最大速度可達(dá)到480 MBit/s,而MC的讀出電子學(xué)通過(guò)LVDS

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