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文檔簡介
1、運(yùn)算放大器廣泛應(yīng)用于各種模擬電路、數(shù)?；旌想娐分?，而由于各自所用的目標(biāo)電路不同側(cè)重的指標(biāo)也有差別。本文基于模擬集成電路基本理論與系統(tǒng)穩(wěn)定原理，對不同結(jié)構(gòu)全差分運(yùn)放(fully differential operational amplifier)進(jìn)行了性能指標(biāo)及測試技術(shù)探討，并研究設(shè)計了一種用于電容式加速度檢測電路的高增益的兩級CMOS全差分運(yùn)放及其版圖。 首先，通過對運(yùn)放開環(huán)直流增益、單位增益帶寬、相位裕度和建立時間等性能指標(biāo)
2、的分析，并對比分析了幾種典型的全差分運(yùn)放結(jié)構(gòu)，設(shè)計開發(fā)了一種CMOS全差分兩級運(yùn)算放大器。 在核心單元研發(fā)過程中，實現(xiàn)了密勒補(bǔ)償方案使相位裕度達(dá)到了設(shè)計要求，并提出了可微調(diào)的連續(xù)時間共模反饋結(jié)構(gòu)。 進(jìn)而，在Cadence環(huán)境下基于IBM0.35μm Bicmos工藝模型，對典型單元電路進(jìn)行Specture模擬。該兩級CMOS全差分運(yùn)放的在常溫5V電源及典型工藝模型(TT)下開環(huán)增益為121.8dB，單位增益帶寬8.48M
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