gis局部放電

1、GIS局部放電局部放電局部放電既是GIS絕緣劣化的征兆和表現(xiàn)形式，又是絕緣進一步劣化的原因。由于絕緣擊穿的后果經(jīng)常比較嚴重，因而受到國內(nèi)外的關(guān)注。顯然，對GIS進行局部放電檢測能夠有效地發(fā)現(xiàn)其內(nèi)部早期的絕緣缺陷，以便采取措施，避免其進一步發(fā)展，提高GIS的可靠性。它還可以彌補耐壓試驗的不足，通過局部放電在線監(jiān)測能發(fā)現(xiàn)GIS制造和安裝的“清潔度“，能發(fā)現(xiàn)絕緣制造工藝和安裝過程中的缺陷、差錯，并能確定故障位置，從而進行有效的處理，確保設(shè)備的

2、安全運行。因此，開展GIS局部放電在線監(jiān)測研究具有十分重要的現(xiàn)實意義。目錄目錄?GIS局部放電在線監(jiān)測方法?GIS局部放電產(chǎn)生的原因?GIS局部放電在線監(jiān)測中存在的問題?GIS局部放電在線監(jiān)測國內(nèi)外發(fā)展狀況GIS局部放電在線監(jiān)測方法局部放電在線監(jiān)測方法?GIS局部放電在線監(jiān)測方法人們隨著GIS在電力系統(tǒng)中的重要性的提高，為保證GIS長期可靠運行，對其絕緣診斷也愈來愈得到重視。作為判斷GIS絕緣狀況的有效手段，GIS中局部放電的檢測技術(shù)也

3、迅速發(fā)展起來。局部放電測量的方法很多，都是根據(jù)局部放電過程中所發(fā)生的物理和化學(xué)效應(yīng)，通過測量局部放電所產(chǎn)生的電荷交換、能量的損失、發(fā)射的電磁波、發(fā)出的聲和光以及生成一些新的生成物等信息，來表征局部放電的狀態(tài)。這些信息總結(jié)起來有電信息和非電信息兩大類，由此局部放電測量方法可以分為電測法和非電測法兩大類，其具體主要可分為以下五種方法：(1)耦合電容電容法：又稱為脈沖電流電流法，它利用貼在GIS外殼外殼上的電容電極耦合探測局部放電在導(dǎo)體芯上引

4、起的電壓變化。該方法結(jié)構(gòu)簡單，便于實現(xiàn)。但是在現(xiàn)且并未接觸時，放電最可能發(fā)生，且放電可能性比同樣微粒但為固定物時高10倍左右；(3)傳導(dǎo)部分接觸不良。例如靜電屏蔽和其它其它浮動部件。由松動或浮動部件產(chǎn)生的放電可能性很大，通常易于檢測，放電趨向于反復(fù)，其放電電荷在nC到gC間轉(zhuǎn)變。(4)絕緣子制造時造成的內(nèi)部空隙和實驗閃絡(luò)引起的表面痕跡，還包括或是因電極的表面粗糙或是來自制造時嵌入的金屬微粒。此外因環(huán)氧樹脂與金屬電極的收縮系數(shù)不同，也會形

5、成氣泡或空隙。這些GIS的絕緣缺陷類型極有可能會在GIS中產(chǎn)生局部放電，在絕緣體中的局部放電甚至?xí)g絕緣材料絕緣材料，進一步發(fā)展成為樹枝，并最后導(dǎo)致絕緣擊穿。一般來說，由于各種缺陷引發(fā)的局部放電具有以下特征：在電場不均勻時，在導(dǎo)體周圍易于發(fā)生電暈放電，由于氣體中的分子是自由移動的，因此GIS設(shè)備中的電暈放電過程與空氣中的電暈放電相似，在施加電壓的正負峰值附近發(fā)生PD脈沖，隨電壓增加，PD脈沖加大，頻度增加。GIS設(shè)備中絕緣子內(nèi)部的氣隙

6、放電在工頻正負半周內(nèi)基本相同，即正負半周放電指紋基本對稱。放電脈沖一般出現(xiàn)在實驗電壓幅值絕對值的上升部分，放電頻率依賴與所加電壓大小，只有在放電強烈時，才會擴展到電壓絕對值下降部分的相位上，且每次放電的大小不相等。絕緣子缺陷在出廠時可能并不出現(xiàn)，但在運輸及安裝過程中有可能造成損傷。一些缺陷最初可能無害，只是在機械振動和靜電力作用下可能輕微移動，形成潛在的隱患。絕緣子表面的缺陷(如污穢等)有助于電荷的增加，可能會形成表面放電，導(dǎo)致絕緣子表

7、面的絕緣劣化，甚至擊穿。其放電特征是：在電流最大相位過零時發(fā)生小電荷的PD脈沖，隨著電壓上升有不規(guī)則的脈沖出現(xiàn)。自由導(dǎo)電微粒和固體導(dǎo)體上金屬突起放電的相位分布有著明顯不同。這個特征通?？梢杂脕韰^(qū)分缺陷的類型。固體導(dǎo)體上金屬突起放電由于導(dǎo)電粒子不浮動，其放電特征是：在施加電壓峰值附近發(fā)生大PD脈沖，隨電壓上升PD電平不變，頻度增加。GIS設(shè)備中自由導(dǎo)電微粒有積累電荷能力，在交流電壓作用下，靜電力可使導(dǎo)電微粒在GIS筒內(nèi)跳動，如直立旋轉(zhuǎn)、舞