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文檔簡介
1、阻抗受控的通孔之設(shè)計(jì)阻抗受控的通孔之設(shè)計(jì)技術(shù)分類:EDA工具與服務(wù)ThomasNeu,德州儀器公司發(fā)表時(shí)間:20040130要想保持印制電路板信號(hào)完整性,就應(yīng)該采用能使印制線阻抗得到精確匹配的層間互連(通孔)這樣一種獨(dú)特方法。隨著數(shù)據(jù)通信速度提高到3Gbps以上,信號(hào)完整性對于數(shù)據(jù)傳輸?shù)捻樌M(jìn)行至關(guān)重要。電路板設(shè)計(jì)人員試圖消除高速信號(hào)路徑上的每一個(gè)阻抗失配,因?yàn)檫@些阻抗失配會(huì)產(chǎn)生信號(hào)抖動(dòng)并降低數(shù)據(jù)眼的張開程度——從而不僅縮短數(shù)據(jù)傳輸?shù)淖?/p>
2、大距離,而且還將諸如SO(同步光網(wǎng)絡(luò))或XAUI(10Gb附屬單元接口)等通用抖動(dòng)規(guī)范的余量降到最低程度。由于印刷電路板上的信號(hào)密度的提高,就需要更多的信號(hào)傳輸層,而且通過層間互連(通孔)實(shí)現(xiàn)傳輸也是不可避免的。過去,通孔代表一種產(chǎn)生信號(hào)失真的重要來源,因?yàn)槠渥杩雇ǔ4蠹s為25~35Ω。這么大的阻抗不連續(xù)性會(huì)使數(shù)據(jù)眼圖的張開程度降低3dB,并會(huì)依據(jù)數(shù)據(jù)速率大小而產(chǎn)生大量的抖動(dòng)。結(jié)果,電路板設(shè)計(jì)人員要么嘗試避免在高速線路上使用通孔,要么嘗
3、試采用新技術(shù),例如鏜孔或盲孔。這些方法雖然有用,但卻會(huì)增加復(fù)雜度并大大提高電路板成本??梢岳靡环N新的“類似同軸的”通孔結(jié)構(gòu)來避免標(biāo)準(zhǔn)通孔出現(xiàn)的嚴(yán)重阻抗失配問題。這種結(jié)構(gòu)以一種特殊的配置將接地通孔放置在信號(hào)通孔四周。采用這種技術(shù)設(shè)計(jì)的通孔在TDR(時(shí)域反射計(jì))曲線上顯示阻抗不連續(xù)性低于4%(502Ω)和信號(hào)質(zhì)量有所改善。這種新方法產(chǎn)生一個(gè)阻抗可調(diào)的垂直通道。開發(fā)人員利用信號(hào)線在中心的簡單同軸模型產(chǎn)生這種通孔結(jié)構(gòu);四周的接地屏蔽產(chǎn)生一個(gè)均
4、勻分布的阻抗。四個(gè)在中心信號(hào)通孔四周排成一圈的接地通孔取代了均勻的接地屏蔽(圖1)。因?yàn)檫@四個(gè)外通孔都連接到印制電路板接地或VDD(電源),所以它們攜帶電荷,而且其中每一個(gè)通孔與信號(hào)通孔之間形成電容。電容量的計(jì)算取決于通孔直徑、介電常數(shù)以及信號(hào)通孔和接地通孔之間的距離。中心通孔的間隙(凹緣)“觸及”外層通孔,所以電容量沿垂直通道均勻分布——防止每一電源平面和接地平面的電容量急劇增加。外側(cè)的接地通孔為信號(hào)返回電流提供路徑,并在信號(hào)通孔和接
5、地通孔之間形成一個(gè)電感回路。圖1印制電路板層間互連設(shè)計(jì)的新技術(shù)提供可預(yù)測的路徑阻抗和改進(jìn)的信號(hào)完整性。你可以利用簡單的公式(參考文獻(xiàn)1)計(jì)算出由一個(gè)接地通孔與信號(hào)通孔形成的電容量和電感量。計(jì)算時(shí),你可以假定這兩個(gè)通孔實(shí)質(zhì)上是兩根直徑相同的導(dǎo)線。D為通孔的直徑,a為信號(hào)通孔和接地通孔之間的中心距。一對通孔的電感L的計(jì)算公式為:一對通孔的電容C計(jì)算公式為:因?yàn)橹饕?個(gè)通孔構(gòu)成的垂直通道是均勻的,因此一對通孔的的阻抗Z的計(jì)算公式為:公式1計(jì)
6、算了標(biāo)準(zhǔn)雙線系統(tǒng)的電容量。改進(jìn)的通孔結(jié)構(gòu)增加了三個(gè)額外的接地通孔,所以信號(hào)通孔中的正電荷量保持不變,但所有圖3這種S21曲線示出了用綠色表示的阻抗受控通孔和用黃色表示的常規(guī)通孔。TDR測量的一個(gè)缺點(diǎn)是,測量結(jié)果是與設(shè)備上升時(shí)間相關(guān)的。它沒有顯示離散頻率不連續(xù)性的頻率響應(yīng)。一種驗(yàn)證和比較通孔阻抗失配的更好方法是觀察網(wǎng)絡(luò)分析儀的S21散射參數(shù)(圖3)。S21曲線示出了特定頻率的信號(hào)是如何通過傳輸線通道的而其它頻率的信號(hào)是如何被反射或衰減的。
7、圖3示出了TDR測量中兩個(gè)通道的S21曲線。兩個(gè)通道是相同的,唯一的差別是一個(gè)通道具有改進(jìn)型通孔結(jié)構(gòu)(綠色曲線),而另一個(gè)通道具有常規(guī)通孔(黃色曲線)。這種改進(jìn)型通孔結(jié)構(gòu)表明頻率響應(yīng)極好,第一諧振出現(xiàn)在大約10GHz處。另一方面,常規(guī)通孔表明,即使阻抗失配很小,在整個(gè)頻率段內(nèi)仍有多重反射。這些反射導(dǎo)致信號(hào)在某些頻率比其它頻率衰減得更大,因而進(jìn)一步降低了高速信號(hào)的質(zhì)量。圖4試驗(yàn)人員開發(fā)了一塊既有標(biāo)準(zhǔn)通孔又有改進(jìn)的阻抗通孔的測試電路板,用以
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