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文檔簡介
1、磁粉檢測Ⅱ級人員標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范考試試題一、判斷題(一)、適用范圍1. 航標(biāo)《磁粉檢驗(yàn)》規(guī)定了濕法磁粉檢驗(yàn)的一般技術(shù)和要求。(正確)2. 航標(biāo)《磁粉檢驗(yàn)》是指導(dǎo)性技術(shù)文件,也是制訂具體磁粉檢驗(yàn)工藝的依據(jù)。(正確)3. 航標(biāo)《磁粉檢驗(yàn)》是企業(yè)制訂具體磁粉檢驗(yàn)工藝的依據(jù)。(正確)4. 航空制件包括原材料、毛坯、半成品、零件、返修件和大修檢查件等。(正確)(二)、設(shè)備器材 、設(shè)備器材5. 非熒光磁粉常用黑色 Fe3O4 和紅褐色γ-Fe2O3 磁粉。
2、(正確)6. 磁粉檢驗(yàn)間應(yīng)為單獨(dú)的有頂棚的房間。(正確)7. 磁粉檢驗(yàn)間內(nèi)應(yīng)有良好通風(fēng),室內(nèi)溫度應(yīng)不高于 15℃。(錯)8. 采用非熒光磁粉檢驗(yàn)時,暗室或暗區(qū)的環(huán)境白光照度應(yīng)不大于 20lx。(錯)9. 移動式設(shè)備應(yīng)配備有良好攪拌裝置的磁懸液槽。(錯)10. 磁粉檢驗(yàn)設(shè)備接觸夾頭宜采用鋼編織襯。 (錯)11. 磁粉檢驗(yàn)設(shè)備所提供的電流強(qiáng)度和安匝數(shù)應(yīng)滿足受檢制件磁化和退磁的要求。(正確)12. 采用剩磁法時,交流探傷機(jī)應(yīng)配備斷電相位控制器
3、。(正確)13. 探傷機(jī)上應(yīng)具有高低檔雙量程指針式電流表或數(shù)字表,小型的磁化設(shè)備,也可以使用一個低量程電流表。(正確)14. 為了檢查大型和重型制件,宜安裝吊車。(正確)15. 非熒光磁粉檢驗(yàn)時,在受檢制件表面白光照度至少應(yīng)達(dá)到 1000lx。(正確)16. 用白光照度計測量檢驗(yàn)制件區(qū)域的白光照度,每月一次。(錯)17. 熒光磁粉探傷時,應(yīng)備有能產(chǎn)生波長在 320~400nm 范圍內(nèi),中心波長為 365nm 的紫外線燈。(正確)18
4、. 采用紫外線輻照計測量紫外輻照度,每月一次。(錯)19. 采用通電法磁化復(fù)雜形狀制件時,如果電流大而分布不均,則有可能燒傷制件。(正確)20. 磁粉檢驗(yàn)時,可根據(jù)實(shí)際情況設(shè)計、加工和使用探傷用夾具。(正確)21. 毫特斯拉計用來測定磁粉檢驗(yàn)時所施加的磁場強(qiáng)度及磁化方向。(正確)22. 毫特斯拉計每年校驗(yàn)一次。(正確)23. XCJ 型袖珍式磁強(qiáng)計用于快速測定制件退磁后剩磁的大小。(正確)24. 袖珍式磁強(qiáng)計每年校驗(yàn)一次。(正確)25.
5、 弱磁場測量儀采用弱磁場測量儀測定制件退磁后的極弱剩磁值。(正確)26. 弱磁場測量儀每年校驗(yàn)一次。(正確)27. 白光照度計每年校驗(yàn)一次。(正確)28. 紫外輻射用于測量紫外光線發(fā)射裝置的紫外輻射能量。(正確)29. 紫外輻照計每年校驗(yàn)一次。(正確)30. 標(biāo)準(zhǔn)試片用于估計受檢制件磁化時的表面磁場強(qiáng)度大小和方向。(正確)31. 標(biāo)準(zhǔn)試塊在購買時檢定。(正確)32. 可采用 100ml 梨形玻璃試管測定磁懸液濃度,以及檢查磁懸液是否受
6、污染等。試管的最小刻度不超過 0.05ml。(正確)33. 磁粉分為熒光磁粉和非熒光磁粉。(正確)(3) 固定式、移動式、便攜式(4) 全波整流電式、半波整流電式、交流電式(三)、檢測技術(shù) 、檢測技術(shù)6. 高磁導(dǎo)率材料是指最大相對磁導(dǎo)率?rm 值:(1)(1) 大于或等于 200 的鐵磁性材料(2) 大于或等于 40 的鐵磁性材料(3) 小于 200 的鐵磁性材料(4) 小于 40 的鐵磁性材料7. 制件正常組織結(jié)構(gòu)或外形的任何間斷,
7、這種間斷可能會、也可能不會影響制件的可用性,該間斷為:(1)(1) 不連續(xù)(2) 缺陷(3) 磁痕(4) 發(fā)紋8. 尺寸、取向、位置或性質(zhì)不滿足制件規(guī)定驗(yàn)收要求的不連續(xù)性為:(2)(1) 不連續(xù)(2) 缺陷(3) 磁痕(4) 裂紋9. 退磁時,退磁線圈中心磁場強(qiáng)度應(yīng): (2)(1) 不高于制件磁化時的磁場強(qiáng)度(2) 不低于制件磁化時的磁場強(qiáng)度(3) 在任何情況下等應(yīng)等于制件磁化時的磁場強(qiáng)度(4) 無所謂10. 制件各種內(nèi)壁表面缺陷磁痕的
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