光熱偏轉(zhuǎn)法評價光學(xué)薄膜的激光損傷.pdf

1、該文總結(jié)了目前國內(nèi)幾種主要的研究方法,包括用透射反射掃描法檢測光學(xué)薄膜的激光損傷,用光聲法測定光學(xué)薄膜的破壞閾值,以及用散射法來測量光學(xué)薄膜的損傷閾值等.在廣泛調(diào)研的基礎(chǔ)上,結(jié)合該實驗室自身的優(yōu)勢,提出了應(yīng)用光熱偏轉(zhuǎn)方法來評價光學(xué)薄膜的激光損傷.該文首先介紹了光熱偏轉(zhuǎn)方法的基本原理和特點,說明了光熱偏轉(zhuǎn)方法在無損檢測領(lǐng)域有著許多突出的優(yōu)點和重要的應(yīng)用.然后描述了光熱偏轉(zhuǎn)方法的理論模型——三層介質(zhì)模型,對三層介質(zhì)模型的解的物理意義加以了說

2、明,并著重論述了引起光熱效應(yīng)的物理量,即沿正向傳播和反向傳播的熱波的物理意義.然后介紹了在實驗中具體應(yīng)用到的三種光熱偏轉(zhuǎn)方法——即掠射式的光熱偏轉(zhuǎn)方法、反射式的光熱偏轉(zhuǎn)方法和透射式的光熱偏轉(zhuǎn)方法.然后詳細介紹了所設(shè)計的實驗裝置中的光、機、電、算等各個環(huán)節(jié).對系統(tǒng)中的泵浦光路和探測光路設(shè)計時的考慮因素,以及設(shè)計實施方案,都作了詳細的介紹.系統(tǒng)機械機構(gòu)的設(shè)計,既要考慮使系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊,又要使系統(tǒng)能夠比較方便的調(diào)整.電子部分也是光熱系統(tǒng)中十分重