化學法制備負熱膨脹性ZrW-,2-O-,8-粉體及薄膜.pdf

1、負熱膨脹(Negative thermal expansion，簡稱NTE)材料研究是材料科學中近年來新興的學科分支，其中負熱膨脹性金屬氧化物具有負熱膨脹系數大、響應溫度范圍寬等優(yōu)點，在光學平面鏡、光纖通信領域、醫(yī)用材料、低溫傳感器、熱電偶及日常生活等方面有巨大的潛在應用價值。特別是新型氧化物ZrW2O8材料，在很寬的溫度范圍內(-272.7～777℃)表現為良好的各向同性負熱膨脹特性，熱膨脹系數達到—8.7×10—6℃—1。鑒于ZrW

2、2O8的獨特性質，本文圍繞著ZrW2O8粉體、薄膜的制備及其負熱膨脹特性開展了相關的研究工作。 以硝酸氧鋯[ZrO(NO3)2·5H2O]和鎢酸銨[N5H37W6O24·H2O]為原料，分別通過共沉淀法、溶膠凝膠法和水熱合成法制備ZrW2O8粉體，考察不同反應條件、添加劑種類，如聚乙二醇(PEG)、十二烷基苯磺酸鈉(SDBS)、十六烷基三甲基溴化銨(CTAB)、聚乙烯醇(PVA)、聚乙烯吡咯烷酮(PVP)等對粉體粒徑及形貌的影響

3、并探討其作用機理，進而考察負熱膨脹特性與粉體粒徑的關系。采用溶膠凝膠和水熱法制備ZrW2O8薄膜，以檸檬酸、酒石酸、PVA等為添加劑，并通過旋涂法進行鍍膜，考察薄膜的形成工藝、初步探索薄膜的形成機理以及負熱膨脹特性，揭示薄膜制備工藝關鍵因素對薄膜化學組成及結構的影響規(guī)律。 對所得粉體的前驅體進行熱重—差熱(TG—DSC)分析；以X射線衍射儀(XRD)對所得粉體及薄膜進行物相分析；以掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM

4、)以及原子力顯微鏡(AFM)對粉體及薄膜的形貌進行表征。利用變溫X射線衍射儀精確收集粉體在不同溫度下的XRD數據，以Powder X、Material Studio軟件分別計算在不同溫度下的晶胞參數，進而計算其負熱膨脹系數。以X射線光電子能譜儀(XPS)對薄膜的化學組成和狀態(tài)進行分析。 所得結果如下： ZrW2O8粉體：(1)采用共沉淀法制備得到單一立方相ZrW2O8粉體，加入不同類型的添加劑后，有效的減小粉體顆粒尺寸

5、。其中PEG(20000)當加入量為nPEG/nmetaliron=0.032時，由于單層吸附提供的空間位阻效應得到平均尺寸約為0.4×0.4μm的超細ZrW2O8粉體。添加劑對熱膨脹系數的影響較小，從室溫到500℃范圍內平均熱膨脹系數約為—6.00×10—6℃—1。(2)只有HCl和HNO3才能提供用于溶膠—凝膠法制備ZrW2O8粉體合成的酸性介質，所得粉體形貌從納米顆粒變?yōu)榘魻钋邑摕崤蛎浵禂惦S顆粒的減小而減小。(3)采用水熱法在57

6、0℃保溫6h制備得到ZrW2O8粉體。所得粉體為規(guī)則的棒狀，平均尺寸約為1.2×1.2×10μm。粉體具有良好的負熱膨脹特性，從室溫到500℃，熱膨脹系數約為-6.30×10-6℃-1。采用HNO3為介質時，當將水熱溫度降至160℃時，所得粉體的顆粒尺寸降至納米級，呈現納米球形狀。加入添加劑SDBS后，粉體顆粒尺寸從原來的1.2×1.2×10μm減小至0.4μm，形狀逐漸由棒狀轉變?yōu)轭惽蛐巍訝顖A盤。SDBS的加入對粉體整體的負熱膨脹性

7、能無影響，從室溫到500℃的平均熱膨脹系數約為-5.8×10-6℃-1。 ZrW2O8薄膜：(1)采用溶膠凝膠法制備薄膜時，以檸檬酸為添加劑，隨著檸檬酸量的增加，改善了ZrW2O8薄膜的開裂現象，所得薄膜致密、無明顯的裂紋和孔洞，但表面較粗糙。薄膜和基片的結合力提高至9.01N。薄膜表現為良好的負熱膨脹性能，從室溫到500℃范圍內的平均熱膨脹系數隨著檸檬酸量的增加從-12.82×10-6℃-1變?yōu)?9.84×10-6℃-1。(

8、2)采用原位水熱法制備得到的ZrW2O8薄膜由棒狀顆粒組成，沒有形成連續(xù)的薄膜。當以檸檬酸和酒石酸為添加劑時，均能制備得到連續(xù)ZrW2O8薄膜，薄膜由相互交疊，形成網狀結構的納米棒顆粒組成。所得薄膜具有良好的負熱膨脹性能，兩者從室溫到500℃范圍內平均熱膨脹系數分別約為-10.76×10-6℃-1和-12.24×10-6℃-1。(3)所有ZrW2O8薄膜在可見光區(qū)域完全透光。與粉體相比，ZrW2O8薄膜α-ZrW2O8向β-ZrW2O8