基于雙模一體化液晶微透鏡陣列的光控陣研究.pdf

1、傳統(tǒng)的成像探測(cè)技術(shù)，利用成像物鏡匯聚目標(biāo)光波在焦平面上形成特定的光場(chǎng)分布，通過成像芯片上的光電傳感器將光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘?hào)，再經(jīng)過電信號(hào)的采集和圖像處理獲取圖像信息。在有復(fù)雜流場(chǎng)、強(qiáng)光干擾及惡劣大氣天侯等成像環(huán)境中，探測(cè)器采集的圖像信息中的目標(biāo)往往由于場(chǎng)景模糊、強(qiáng)光下背景突出、目標(biāo)弱小或快速運(yùn)動(dòng)而被掩蓋掉。這種情況下，依靠常規(guī)的圖像信息處理方法難以有效提高目標(biāo)的可分辨性或可探測(cè)性，此時(shí)需要對(duì)目標(biāo)光波進(jìn)行快速光學(xué)處理，調(diào)節(jié)焦平面上的光場(chǎng)分布

2、，主要措施包括調(diào)焦、降低入射光強(qiáng)度或提高對(duì)比度等，達(dá)到顯著提高目標(biāo)探測(cè)識(shí)別目的。不同于常規(guī)功能的成像物鏡或透鏡，論文提出了一種基于雙模一體化電控液晶微透鏡陣列的光控陣，首先闡述了電控液晶的基本物性和相關(guān)理論，然后利用Matlab對(duì)電控液晶微透鏡的控光功能進(jìn)行了仿真，接下來詳細(xì)討論了光控陣的工藝制作流程，最后測(cè)試了光控陣的光匯聚及光發(fā)散效能，焦長和驅(qū)控電壓間的關(guān)系，器件抗強(qiáng)光干擾的效果。與此同時(shí)，進(jìn)一步將所發(fā)展的光控陣技術(shù)用于較強(qiáng)光束的陣

3、列化光纖互聯(lián)通斷及混沌信號(hào)的光學(xué)加解密應(yīng)用，并取得良好效果。論文的主要工作點(diǎn)如下：
　　1、利用差分迭代法對(duì)液晶分子指向矢分布進(jìn)行仿真，通過角譜衍射理論得到輸出面光場(chǎng)的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)，克服了傳統(tǒng)幾何光學(xué)仿真中計(jì)算復(fù)雜、收斂慢和誤差較大的缺點(diǎn)。
　　2、優(yōu)化了制作工藝和器件結(jié)構(gòu)，提出了在玻璃基底兩側(cè)分別鍍鋁以及聚酰亞胺電極層，有效減小了電極層到液晶層的厚度，降低了器件的驅(qū)控電壓，提高了器件對(duì)入射光波的調(diào)控性能。
　　3、創(chuàng)新