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文檔簡介
1、本論文致力于研究GaN基激光器的光學(xué)損耗和載流子注入效率,并取得了如下成果:
1、研究了GaN基激光器外延片和器件的光學(xué)損耗。首先,搭建了一套測試GaN基激光器外延片光學(xué)損耗的測試系統(tǒng),通過理論分析發(fā)現(xiàn)該系統(tǒng)的測試誤差小于1cm-1。利用該測試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)研究了GaN基激光器的光學(xué)損耗來源,證實(shí)了p型層中激活的Mg受主的吸收是激光器光學(xué)損耗的主要來源,但未激活的Mg受主的光吸收系數(shù)不大。仿真計(jì)算及實(shí)驗(yàn)結(jié)果均表明,降低p型層與光場的
2、交疊可以有效降低GaN基激光器的光學(xué)損耗。其次,使用Hakki-Paoli法研究了GaN基激光器器件的光學(xué)損耗,發(fā)現(xiàn)外延片與器件的光學(xué)損耗測量值有一定的差異,并分析了造成這種差異的原因。
2、研究了c面GaN基綠光激光器的空穴輸運(yùn)特性。針對綠光激光器空穴輸運(yùn)特性存在的爭議,進(jìn)行了仿真計(jì)算與實(shí)驗(yàn)研究,研究結(jié)果表明,空穴能夠從綠光雙量子阱中溢出,從而降低綠光激光器的載流子注入效率。在綠光雙量子阱的下方摻雜硅可以有效抑制空穴從綠光雙
3、量子阱中的溢出,其物理機(jī)制為硅摻雜增加了空穴輸運(yùn)的勢壘。
3、研究了綠光激光器InGaN波導(dǎo)層中的載流子復(fù)合及抑制方法。通過模擬計(jì)算發(fā)現(xiàn),在最后一個GaN量子壘層和InGaN上波導(dǎo)層之間存在一個勢壘,這個勢壘會阻礙載流子的輸運(yùn),導(dǎo)致載流子在InGaN上波導(dǎo)層中積聚并復(fù)合,降低綠光激光器的載流子注入效率。當(dāng)InGaN上波導(dǎo)層的In組分高于4%時,載流子在上波導(dǎo)層內(nèi)的復(fù)合不可忽略不計(jì)。適當(dāng)降低InGaN上波導(dǎo)層的In組分可以有效抑
4、制上波導(dǎo)層的載流子復(fù)合,減小綠光激光器的閾值電流。實(shí)驗(yàn)結(jié)果同模擬計(jì)算結(jié)果吻合的很好。
4、研究了GaN基藍(lán)光激光器的波導(dǎo)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。首先,在InGaN上(下)波導(dǎo)層與AlGaN上(下)限制層之間插入額外的GaN上(下)波導(dǎo)層可以有效降低激光器的光學(xué)損耗。其次,隨著插入波導(dǎo)層厚度的增加、上波導(dǎo)層背景載流子濃度的上升,上波導(dǎo)層的載流子復(fù)合以及越過電子阻擋層的電子電流會不斷增大,從而降低藍(lán)光激光器的載流子注入效率。最后,采用In組分漸
5、變的InGaN作為上波導(dǎo)層可以有效抑制上波導(dǎo)層的載流子復(fù)合以及越過電子阻擋層的電子電流,提升藍(lán)光激光器的載流子注入效率。
5、研究了總氣流量、生長溫度對MOCVD生長AlGaN的影響。在反應(yīng)室壓力、反應(yīng)物濃度保持不變的前提下,隨著總氣流量的增加,反應(yīng)室內(nèi)氣流速率加快,MOCVD生長的速率增加。在AlGaN生長速率不變的前提下,隨著總氣流量的增加、生長溫度的降低,氣相中由NH3分解產(chǎn)生的H原子濃度減少,AlGaN層中并入的碳濃度
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