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文檔簡介
1、隨著光纖通信的不斷發(fā)展,光纖在我們生活的方方面面發(fā)揮著越來越重要的作用。為保證通信質(zhì)量,需要光纖能在一定拉力的作用下不發(fā)生斷裂,這對光纖的機械強度提出了要求。光纖在敷設(shè)或使用的過程中難免會出現(xiàn)彎曲,產(chǎn)生光損耗,因此有必要研究光纖彎曲損耗隨光纖彎曲半徑的變化規(guī)律,找到臨界彎曲半徑。為了讓光纖能適應(yīng)各種環(huán)境,光纖的機械強度和彎曲損耗需要在不同環(huán)境下分別測量。我們模擬了常溫、高溫高濕、鹽霧和硫化四種環(huán)境。
本課題設(shè)計了光纖拉伸夾具及
2、拉伸試驗系統(tǒng),測量并比較了常溫、高溫高濕、鹽霧、硫化環(huán)境下光纖的機械強度。通過比較發(fā)現(xiàn),光纖在極端條件下的斷裂強度比常溫條件下的斷裂強度要低。環(huán)境越惡劣,斷裂強度下降得越厲害。
采用了掃描電子顯微鏡觀察了光纖斷面的形貌,解釋了經(jīng)高溫高濕、鹽霧環(huán)境處理的光纖機械強度下降的原因。經(jīng)過高溫高濕、鹽霧和硫化環(huán)境處理后的光纖受外界環(huán)境的腐蝕,產(chǎn)生了裂紋或使裂紋擴展,從而影響了光纖的斷裂強度。
采用X射線光電子能譜儀檢測到了經(jīng)硫
3、化處理的光纖中存在硫元素,證明了經(jīng)硫化處理后,硫元素的確滲透進了光纖內(nèi)部,產(chǎn)生了細絲或白點。這些細絲和白點是造成該光纖機械強度下降的原因。
此外,對常溫、高溫高濕、鹽霧和硫化環(huán)境下的光纖的彎曲損耗系數(shù)進行了測試。對高溫高濕、鹽霧、硫化環(huán)境下的光纖彎曲損耗和常溫光纖的進行對比發(fā)現(xiàn),高溫高濕、鹽霧、硫化環(huán)境處理后的光纖彎曲損耗要比常溫條件下的大;而且在同一彎曲半徑下,彎曲損耗隨彎曲圈數(shù)的增加近似成線性變化;當光纖彎曲半徑超過15m
4、m時,彎曲損耗系數(shù)極小。
本課題的創(chuàng)新點在于:
(1)設(shè)計了專門用于測量光纖機械強度的拉伸試驗機及專用夾具。此試驗機體積小,重量輕,攜帶方便,操作簡單;夾具小巧,夾持光纖牢固。
(2)對經(jīng)高溫高濕、鹽霧、硫化環(huán)境處理后的光纖進行機械強度的測試,并通過掃描電子顯微鏡觀察光纖斷面形貌,通過X射線光電子能譜分析進一步確定了硫化對光纖機械強度的影響;
(3)對經(jīng)高溫高濕、鹽霧、硫化環(huán)境處理后的光纖進行彎曲
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