版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡介
1、0010碩士學(xué)位論文碩士學(xué)位論文摻鎳納米微粒摻鎳納米微粒HfO2薄膜的電荷存儲(chǔ)特性薄膜的電荷存儲(chǔ)特性論文作者:朱華星指導(dǎo)教師:邱曉燕副教授學(xué)科專業(yè):凝聚態(tài)物理研究方向:納米薄膜存儲(chǔ)器件制備與性能提交論文日期:2016年4月20日論文答辯日期:2016年6月4日學(xué)位授予單位:西南大學(xué)中國?重慶2016年6月單位代碼10635____學(xué)號(hào)112013315001076目錄摘要.................................
2、......................................................................................................IAbstract.............................................................................................................
3、..........................I第一章緒論...........................................................................................................................11.1非易失性存儲(chǔ)器件簡介...................................................
4、...........................................11.2納米浮柵非易失性存儲(chǔ)器(NFGNVM)發(fā)展的趨勢和存在的問題.........................21.3納米浮柵非易失性存儲(chǔ)器的研究現(xiàn)狀......................................................................31.4在本文的研究中,隧穿控制層以及納米微粒電荷存儲(chǔ)單
5、元材料的選擇.............41.5本文研究的目的、意義和主要內(nèi)容..........................................................................5第二章薄膜制備,微結(jié)構(gòu)觀測和電學(xué)性能表征方法簡介..................................................72.1薄膜的制備與沉積速率的標(biāo)定................
6、...................................................................72.1.1薄膜的制備.........................................................................................................72.1.2射頻磁控濺射原理簡介.....................
7、................................................................72.1.3沉積速率的標(biāo)定.................................................................................................82.2薄膜微結(jié)構(gòu)觀測、成分表征方法............................
8、...................................................82.2.1原子力顯微鏡(AFM)原理簡介..........................................................................82.2.2透射電子顯微鏡(TEM)原理簡介....................................................
9、..................92.2.3X射線光電子能譜儀(XPS)原理簡介...............................................................92.3薄膜電學(xué)性能的測量及方法簡介.............................................................................102.3.1薄膜MOS電容器結(jié)構(gòu)CV特
10、性曲線的測量與校正...................................102.3.2電荷存儲(chǔ)相關(guān)電學(xué)性能參數(shù)的提取...............................................................102.4薄膜MOS電容器結(jié)構(gòu)的漏電流電壓(IV)特性曲線測量................................11第三章?lián)芥嚰{米微粒HfO2薄膜的制備與微結(jié)構(gòu)觀測..
11、.....................................................123.1摻鎳納米微粒HfO2薄膜樣品的制備.......................................................................123.2摻鎳納米微粒HfO2薄膜的形貌、微結(jié)構(gòu)觀測與分析...........................................13
12、3.3本章小結(jié).....................................................................................................................14第四章?lián)芥嚰{米微粒HfO2薄膜的電荷存儲(chǔ)特性..............................................................154.1摻鎳前后H
13、fO2薄膜的介電性能對比.......................................................................154.2摻鎳前后HfO2薄膜的CV特性曲線的測量與分析..............................................154.2.1不同測量溫度的摻鎳納米微粒HfO2薄膜的電荷存儲(chǔ)特性.........................154.2
14、.2摻鎳納米微粒HfO2薄膜MOS電容器結(jié)構(gòu)的能帶匹配圖..........................174.3摻鎳納米微粒HfO2薄膜的電荷存儲(chǔ)耐受性..........................................................184.4摻鎳納米微粒HfO2薄膜的電荷存儲(chǔ)時(shí)效性..........................................................
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- 摻鎳納米微粒HfO2薄膜的電荷存儲(chǔ)特性.pdf
- 基于HfO2電荷俘獲層氧缺陷存儲(chǔ)特性研究.pdf
- 摻Ag納米微粒HfAlOx薄膜的電存儲(chǔ)特性與磁各向異性.pdf
- 摻雜γ-Fe2O3納米微粒HfOx薄膜的存儲(chǔ)特性.pdf
- HfO2薄膜微結(jié)構(gòu)及電學(xué)性能研究.pdf
- 外文翻譯--超薄hfo2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究
- 基于HfO2的RRAM阻變特性研究.pdf
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 外文翻譯--超薄HfO2薄膜納米劃痕測試的力學(xué)性能研究.doc
- 射頻磁控濺射HfO2薄膜的電學(xué)特性及室溫弱鐵磁性研究.pdf
- Si摻雜HfO2鐵電薄膜的可靠性研究.pdf
- 單斜相HfO2納米粉末的非水溶液法合成及其磁學(xué)特性研究.pdf
- 無摻雜ZrO2和HfO2納米粒子組裝薄膜的制備與磁學(xué)性能研究.pdf
評論
0/150
提交評論