MCU芯片測試系統(tǒng)研究與實現(xiàn).pdf

1、MCU(Micro Control Unit)芯片稱為微控制單元，又稱作單片機，是許多控制電路中的重要組成部分。MCU芯片的設(shè)計和制造的發(fā)展要依賴于芯片的測試，隨著芯片可測試管腳數(shù)量的增多，芯片的功能也隨之增多，芯片測試的復雜度和測試時間也隨之增加。芯片測試系統(tǒng)從1965年至今已經(jīng)歷了四個階段，目前的芯片測試系統(tǒng)無論在測試速度還是在可測試管腳數(shù)量方面都比以前有了很大提升，但是任何一個芯片測試系統(tǒng)也無法完全滿足由于不斷更新的芯片而引起的對

2、測試任務不斷更新的要求。設(shè)計安全性高、測試效率高、系統(tǒng)升級成本低的芯片測試系統(tǒng)是發(fā)展的方向。本課題來源于航天科技集團北京航天一院12所兩個委托項目，彈上儀器可編程芯片測試驗證系統(tǒng)、光纜傳輸系統(tǒng)可編程芯片驗證系統(tǒng)，針對特定的MCU芯片設(shè)計測試系統(tǒng)對芯片測試方法、系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)設(shè)計進行了深入研究，主要研究工作如下：
　?。?）為提高芯片測試系統(tǒng)的效率，提出一種通用測試集合的測試方法，生成針對課題芯片的測試向量，在不影響故障覆蓋率的前提下

3、，減少測試數(shù)量，提高測試效率。
　　（2）為解決測試系統(tǒng)升級成本高的問題，測試系統(tǒng)以分布式的結(jié)構(gòu)進行設(shè)計，將系統(tǒng)分為管理層、中間層、執(zhí)行層。管理層由上位機構(gòu)成，測試向量全儲存在管理層中，如果同型號待測芯片的功能變更，只要對上位機進行升級即可，這樣就能夠降低測試系統(tǒng)的升級成本。
　　（3）為保證測試的安全性，在執(zhí)行層中設(shè)計了防插反電路，避免測試過程中由于操作不當，而燒壞插反的芯片。同時設(shè)計并實現(xiàn)了芯片測試系統(tǒng)的各個模塊，測試系